論文の概要: Characterizing Universal Gate Sets via Dihedral Benchmarking
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/1508.06312v3
- Date: Wed, 13 Aug 2025 17:36:02 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-08-17 16:03:33.47101
- Title: Characterizing Universal Gate Sets via Dihedral Benchmarking
- Title（参考訳）: 二面ベンチマークによるユニバーサルゲートセットのキャラクタリゼーション
- Authors: Arnaud Carignan-Dugas, Joel J. Wallman, Joseph Emerson,
- Abstract要約: 二面体群に付随する非クリフォードゲートの誤差率を頑健に特徴付けるための実用的な実験的プロトコルについて述べる。
我々の二面ベンチマークプロトコルは、通常のユニタリ2設計条件を緩和するランダム化ベンチマークの一般化である。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We describe a practical experimental protocol for robustly characterizing the error rates of non-Clifford gates associated with dihedral groups, including gates in SU(2) associated with arbitrarily small angle rotations. Our dihedral benchmarking protocol is a generalization of randomized benchmarking that relaxes the usual unitary 2-design condition. Combining this protocol with existing randomized benchmarking schemes enables an efficient means of characterizing universal gate sets for quantum information processing in a way that is independent of state-preparation and measurement errors. In particular, our protocol enables direct benchmarking of the $T$ gate (sometime called $\pi/8$-gate) even for the gate-dependent error model that is expected in leading approaches to fault-tolerant quantum computation.
- Abstract（参考訳）: 任意に小さな角度回転を伴うSU(2)のゲートを含む二面体群に付随する非クリフォードゲートの誤差率を頑健に特徴付けるための実用的な実験的プロトコルについて述べる。
我々の二面ベンチマークプロトコルは、通常のユニタリ2設計条件を緩和するランダム化ベンチマークの一般化である。
このプロトコルと既存のランダム化ベンチマークスキームを組み合わせることで、量子情報処理のための普遍ゲートセットを、状態準備や測定エラーとは無関係に特徴付けることができる。
特に,本プロトコルは,フォールトトレラント量子計算へのアプローチの先駆けとして期待されるゲート依存誤差モデルであっても,$T$ゲート(時には$\pi/8$-gateと呼ばれる)の直接ベンチマークを可能にする。
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