論文の概要: Materials loss measurements using superconducting microwave resonators

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2006.04718v2
• Date: Mon, 21 Sep 2020 16:59:01 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-05-16 06:58:21.435683
• Title: Materials loss measurements using superconducting microwave resonators
• Title（参考訳）: 超伝導マイクロ波共振器を用いた材料損失測定
• Authors: Corey Rae Harrington McRae, Haozhi Wang, Jiansong Gao, Michael Vissers, Teresa Brecht, Andrew Dunsworth, David Pappas, Josh Mutus
• Abstract要約: 超伝導マイクロ波共振器は、性能を評価するのに便利なクビットプロキシを提供する。 超伝導マイクロ波共振器は、性能を評価するのに便利なクビットプロキシを提供する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: The performance of superconducting circuits for quantum computing is limited by materials losses. In particular, coherence times are typically bounded by two-level system (TLS) losses at single photon powers and millikelvin temperatures. The identification of low loss fabrication techniques, materials, and thin film dielectrics is critical to achieving scalable architectures for superconducting quantum computing. Superconducting microwave resonators provide a convenient qubit proxy for assessing performance and studying TLS loss and other mechanisms relevant to superconducting circuits such as non-equilibrium quasiparticles and magnetic flux vortices. In this review article, we provide an overview of considerations for designing accurate resonator experiments to characterize loss, including applicable types of loss, cryogenic setup, device design, and methods for extracting material and interface losses, summarizing techniques that have been evolving for over two decades. Results from measurements of a wide variety of materials and processes are also summarized. Lastly, we present recommendations for the reporting of loss data from superconducting microwave resonators to facilitate materials comparisons across the field.
• Abstract（参考訳）: 量子コンピューティングにおける超伝導回路の性能は材料損失によって制限される。 特に、コヒーレンス時間は通常、単一の光子パワーとミリケルビン温度における2レベル系(TLS)損失によって制限される。 超伝導量子コンピューティングのためのスケーラブルなアーキテクチャを実現するためには,低損失加工技術,材料,薄膜誘電体の同定が重要である。 超伝導マイクロ波共振器は、tls損失および非平衡準粒子や磁束渦などの超伝導回路に関連する他のメカニズムを評価・研究するための便利な量子ビットプロキシを提供する。 本稿では,20年以上にわたって発展してきた材料と界面の損失を抽出する手法,材料と界面の損失を抽出する手法など,損失の適応型,低温発生装置,デバイス設計を含む,正確な共振器実験を設計するための考察の概要について述べる。 様々な材料やプロセスの測定結果もまとめられている。 最後に, 超伝導マイクロ波共振器からの損失データの報告を推奨し, 材料比較を容易にする。

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