Fugu-MT 論文翻訳(概要): Driven-state relaxation of a coupled qubit-defect system in spin-locking measurements

論文の概要: Driven-state relaxation of a coupled qubit-defect system in spin-locking measurements

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2006.05820v2
Date: Fri, 14 Aug 2020 11:39:06 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-05-16 02:48:51.343849
Title: Driven-state relaxation of a coupled qubit-defect system in spin-locking measurements
Title（参考訳）: スピンロック測定における結合量子欠陥系の駆動状態緩和
Authors: Leonid V. Abdurakhimov, Imran Mahboob, Hiraku Toida, Kosuke Kakuyanagi, Yuichiro Matsuzaki, and Shiro Saito
Abstract要約: 量子ビットの駆動スピンロック状態の緩和速度は、非共振性高周波2レベル系の欠陥により著しく影響を受けることが示されている。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: It is widely known that spin-locking noise-spectroscopy is a powerful technique for the characterization of low-frequency noise mechanisms in superconducting qubits. Here we show that the relaxation rate of the driven spin-locking state of a qubit can be significantly affected by the presence of an off-resonant high-frequency two-level-system defect. Thus, both low- and high-frequency defects should be taken into account in the interpretation of spin-locking measurements and other types of driven-state noise-spectroscopy.
Abstract（参考訳）: スピンロックノイズ分光法は超伝導量子ビットにおける低周波ノイズ機構のキャラクタリゼーションの強力な手法として広く知られている。ここで、量子ビットの駆動スピンロック状態の緩和速度は、オフ共振の高周波2レベルシステム欠陥の存在によって著しく影響を受けることを示す。したがって、低周波および高周波の欠陥は、スピンロック測定やその他の駆動状態ノイズスペクトロスコピーの解釈において考慮すべきである。

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