論文の概要: Hong-Ou-Mandel interference depends on the method of the erasing the
beam path information
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2011.05545v1
- Date: Wed, 11 Nov 2020 04:56:37 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-24 11:59:43.702019
- Title: Hong-Ou-Mandel interference depends on the method of the erasing the
beam path information
- Title(参考訳): ホン・ウー・マンデル干渉はビームパス情報の消去方法に依存する
- Authors: Sun-Hyun Youn
- Abstract要約: ホン・ウー・マンデル干渉は、物理的測定プロセスからビームパス不飽和が除去された場合にのみ得ることができる。
実測からビーム路不干渉が除去された場合にのみ,香港・奥羽・マンデル干渉が得られることを示す。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
- Abstract: We study how the information of the beam path is related to the
Hong-Ou-Mandel interference with two pulsed light sources. Through a simple
model in which two photons in the form of pulses pass a beamsplitter and are
observed at two detectors, we investigate how, during the measurement process,
information about the paths of the two photons can be erased. There are two
ways to clear the information of the beam path, the first being that from the
beginning, during the physical measurement process, the time information is not
obtained. The other is after measuring the information, to erase the temporal
information in the data analyzing process. We show that Hong-Ou-Mandel
interference can be obtained only when the beam path inofrmation is cleared
from the physical measurement process.
- Abstract(参考訳): ビームパスの情報と2つのパルス光源とのホン・ウー・マンデル干渉の関係について検討した。
パルスの形で2つの光子がビームスプリッターを通過し、2つの検出器で観測される単純なモデルを通じて、測定過程で、2つの光子の経路に関する情報がどのように消去されるかを調べる。
ビームパスの情報をクリアする方法には2つの方法があり、第一に、物理計測過程の初めから時間情報が得られない方法である。
もう1つは、その情報を測定して、データ解析プロセスの時間情報を消去する。
本研究は, ビームパスの浸透が物理計測から除去された場合にのみ, ホン・ウー・マンデル干渉が得られることを示す。
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