論文の概要: SHOT-VAE: Semi-supervised Deep Generative Models With Label-aware ELBO
Approximations
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2011.10684v4
- Date: Tue, 8 Dec 2020 07:04:44 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-09-22 23:34:28.463138
- Title: SHOT-VAE: Semi-supervised Deep Generative Models With Label-aware ELBO
Approximations
- Title(参考訳): SHOT-VAE:ラベル対応ELBO近似を用いた半教師付き深層生成モデル
- Authors: Hao-Zhe Feng, Kezhi Kong, Minghao Chen, Tianye Zhang, Minfeng Zhu, Wei
Chen
- Abstract要約: この問題の2つの原因を調査・提案する。
SHOT-VAEは10kラベルのCIFAR-100では25.30%のエラー率で性能が良く、4kラベルのCIFAR-10では6.11%に低下する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 20.849537231471746
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Semi-supervised variational autoencoders (VAEs) have obtained strong results,
but have also encountered the challenge that good ELBO values do not always
imply accurate inference results. In this paper, we investigate and propose two
causes of this problem: (1) The ELBO objective cannot utilize the label
information directly. (2) A bottleneck value exists and continuing to optimize
ELBO after this value will not improve inference accuracy. On the basis of the
experiment results, we propose SHOT-VAE to address these problems without
introducing additional prior knowledge. The SHOT-VAE offers two contributions:
(1) A new ELBO approximation named smooth-ELBO that integrates the label
predictive loss into ELBO. (2) An approximation based on optimal interpolation
that breaks the ELBO value bottleneck by reducing the margin between ELBO and
the data likelihood. The SHOT-VAE achieves good performance with a 25.30% error
rate on CIFAR-100 with 10k labels and reduces the error rate to 6.11% on
CIFAR-10 with 4k labels.
- Abstract(参考訳): 半教師付き変分オートエンコーダ(VAE)は強い結果を得たが、優れたELBO値が常に正確な推論結果を示すとは限らないという問題にも遭遇した。
本稿では,(1)elboの目的はラベル情報を直接利用できない,という2つの原因を考察し,提案する。
2)ボトルネック値が存在してELBOの最適化が継続すると、推測精度は向上しない。
実験結果に基づいて,追加の事前知識を導入することなく,これらの問題に対処するためのSHOT-VAEを提案する。
ショットベイは、(1)ラベル予測損失をelboに統合するsmooth-elboという新しいelbo近似という2つの貢献を提供する。
2) ELBO値のボトルネックを壊す最適補間に基づく近似は, ELBOとデータ可能性とのマージンを小さくすることで近似する。
SHOT-VAEは10kラベルのCIFAR-100では25.30%のエラー率で性能が良く、4kラベルのCIFAR-10では6.11%に低下する。
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