Fugu-MT 論文翻訳(概要): Enhanced on-chip frequency measurement using weak value amplification

論文の概要: Enhanced on-chip frequency measurement using weak value amplification

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2103.15752v1
Date: Mon, 29 Mar 2021 16:45:15 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-04-06 06:01:45.763622
Title: Enhanced on-chip frequency measurement using weak value amplification
Title（参考訳）: 弱値増幅を用いたオンチップ周波数測定の高速化
Authors: John Steinmetz, Kevin Lyons, Meiting Song, Jaime Cardenas, Andrew N. Jordan
Abstract要約: 多モード干渉計を用いた弱値増幅による光周波数の精密測定を行う統合設計を提案する。この技術は、弱い摂動をシステムに導入し、その後、技術的ノイズを増幅することなく信号が増幅されるように、データを後から選択する。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: We present an integrated design to precisely measure optical frequency using weak value amplification with a multi-mode interferometer. The technique involves introducing a weak perturbation to the system and then post-selecting the data in such a way that the signal is amplified without amplifying the technical noise, as has previously been demonstrated in a free-space setup. We demonstrate the advantages of a Bragg grating with two band gaps for obtaining simultaneous, stable high transmission and high dispersion. We numerically model the interferometer in order to demonstrate the amplification effect. The device is shown to have advantages over both the free-space implementation and other methods of measuring optical frequency on a chip, such as an integrated Mach-Zehnder interferometer.
Abstract（参考訳）: 多モード干渉計を用いた弱値増幅による光周波数の精密測定を行う統合設計を提案する。この手法は、システムへの弱い摂動の導入と、以前フリースペース設定で示されていたように、信号が技術的なノイズを増幅することなく増幅されるようにデータを後続的に選択することを含む。 2つのバンドギャップを有するブラッググレーティングの利点を実証し, 安定な高透過率および高分散性を実現する。増幅効果を示すために干渉計を数値的にモデル化する。このデバイスは、フリースペースの実装と、マッハ・ツェンダー干渉計のようなチップ上の光学周波数を測定する他の方法に勝るものであることが示されている。

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