Fugu-MT 論文翻訳(概要): Optimal Scheme for Quantum Metrology

論文の概要: Optimal Scheme for Quantum Metrology

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2111.12279v1
Date: Wed, 24 Nov 2021 05:37:26 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-03-07 00:15:10.625907
Title: Optimal Scheme for Quantum Metrology
Title（参考訳）: 量子メソロジーの最適スキーム
Authors: Jing Liu, Mao Zhang, Hongzhen Chen, Lingna Wang, Haidong Yuan
Abstract要約: 状態準備、パラメトリゼーション、測定手順をレビューする。これは量子力学と関連する分野の研究者にとって有用な参考となることが期待されている。
参考スコア（独自算出の注目度）: 4.682128305250867
License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
Abstract: Quantum metrology can achieve far better precision than classical metrology, and is one of the most important applications of quantum technologies in the real world. To attain the highest precision promised by quantum metrology, all steps of the schemes need to be optimized, which include the state preparation, parametrization, and measurement. Here the recent progresses on the optimization of these steps, which are essential for the identification and achievement of the ultimate precision limit in quantum metrology, are reviewed. It is hoped this provides a useful reference for the researchers in quantum metrology and related fields.
Abstract（参考訳）: 量子メートル法は古典的メートル法よりもはるかに精度が高く、現実世界における量子技術の最も重要な応用の1つである。量子メトロロジーによって約束される最高精度を達成するためには、状態の準備、パラメトリゼーション、測定を含む全てのスキームのステップを最適化する必要がある。ここでは、量子論における究極の精度限界の同定と達成に不可欠なこれらのステップの最適化に関する最近の進歩を概観する。これは量子力学と関連する分野の研究者にとって有用な参考となることが期待されている。

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