論文の概要: In situ process quality monitoring and defect detection for direct metal
laser melting
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2112.01921v1
- Date: Fri, 3 Dec 2021 14:05:31 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2021-12-06 17:13:21.070398
- Title: In situ process quality monitoring and defect detection for direct metal
laser melting
- Title(参考訳): 直接金属レーザー溶解におけるプロセス品質モニタリングと欠陥検出
- Authors: Sarah Felix, Saikat Ray Majumder, H. Kirk Mathews, Michael Lexa,
Gabriel Lipsa, Xiaohu Ping, Subhrajit Roychowdhury, Thomas Spears
- Abstract要約: プロセス内故障検出と部分品質予測は、既存の商用DMLMシステムに容易に展開できる。
ベイズ的アプローチは、複数のプロセス状態の1つに測定を属性付け、最小2乗回帰モデルは、特定の材料欠陥の深刻度を予測する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
- Abstract: Quality control and quality assurance are challenges in Direct Metal Laser
Melting (DMLM). Intermittent machine diagnostics and downstream part
inspections catch problems after undue cost has been incurred processing
defective parts. In this paper we demonstrate two methodologies for in-process
fault detection and part quality prediction that can be readily deployed on
existing commercial DMLM systems with minimal hardware modification. Novel
features were derived from the time series of common photodiode sensors along
with standard machine control signals. A Bayesian approach attributes
measurements to one of multiple process states and a least squares regression
model predicts severity of certain material defects.
- Abstract(参考訳): DMLM(Direct Metal Laser Melting)における品質管理と品質保証は課題である。
間欠的な機械診断と下流部検査は、未処理部品が故障した後に問題となる。
本稿では,既存の商用DMLMシステムに最小限のハードウェア修正で容易に展開可能なプロセス内故障検出手法と部品品質予測手法について述べる。
新しい特徴は、一般的なフォトダイオードセンサーと標準の機械制御信号の時系列から派生した。
ベイズアプローチは、測定結果を複数の過程の1つに分類し、最小二乗回帰モデルは、特定の物質欠陥の深刻度を予測する。
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