Fugu-MT 論文翻訳(概要): Autocorrective interferometers for photonic integrated circuits

論文の概要: Autocorrective interferometers for photonic integrated circuits

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2201.03501v3
Date: Thu, 27 Jan 2022 11:43:51 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-03-01 19:35:12.065081
Title: Autocorrective interferometers for photonic integrated circuits
Title（参考訳）: フォトニック集積回路用自己補正干渉計
Authors: Matteo Cherchi
Abstract要約: Blochの球面表現が非常に強力な設計ツールであることを示す。 VTTのマイクロスケールシリコンフォトニクスプラットフォームにおける自動補正設計の実践的実装の最近の進歩を概観する。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: Extensive literature has shown that finite impulse response (FIR) interferometers can be engineered to be insensitive under variations of different physical parameters, e.g., to ensure flat-top response and/or tolerance to fabrication errors. In this context, I will show how the Bloch sphere representation can be a very powerful design tool providing superior physical insight into the working principle of autocorrective devices like broadband 50:50 splitters or flat-top interleavers, that can be therefore designed through simple analytical formulas. I will eventually review the recent progress in practical implementation of the autocorrective designs in the micron-scale silicon photonics platform of VTT.
Abstract（参考訳）: 広範囲の文献では、有限インパルス応答(fir)干渉計は、フラットトップ応答と/または製造誤差への耐性を確保するために、異なる物理パラメータのバリエーションに対して無感であるように設計できる。この文脈で、ブロッホ球面表現は、広帯域50:50スプリッターやフラットトップインターリーバーのような自動修正装置の動作原理に対する優れた物理的洞察を提供する非常に強力な設計ツールとなり得ることを示す。最後に、vttのマイクロンスケールシリコンフォトニクスプラットフォームにおける自動修正設計の実際的実装の最近の進歩をレビューする。

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