Fugu-MT 論文翻訳(概要): IPNET:Influential Prototypical Networks for Few Shot Learning

論文の概要: IPNET:Influential Prototypical Networks for Few Shot Learning

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2208.09345v3
Date: Sat, 13 Jul 2024 15:23:18 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2024-07-18 00:30:09.232410
Title: IPNET:Influential Prototypical Networks for Few Shot Learning
Title（参考訳）: IPNET:少数のショット学習のための流用プロトタイプネットワーク
Authors: Ranjana Roy Chowdhury, Deepti R. Bathula,
Abstract要約: プロトタイプネットワーク(PN)は単純だが効果的なショットラーニング戦略である。 PNは, 支持試料分布に影響を及ぼす試料の重量特性を特徴付ける。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.9208007322096533
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: Prototypical network (PN) is a simple yet effective few shot learning strategy. It is a metric-based meta-learning technique where classification is performed by computing Euclidean distances to prototypical representations of each class. Conventional PN attributes equal importance to all samples and generates prototypes by simply averaging the support sample embeddings belonging to each class. In this work, we propose a novel version of PN that attributes weights to support samples corresponding to their influence on the support sample distribution. Influence weights of samples are calculated based on maximum mean discrepancy (MMD) between the mean embeddings of sample distributions including and excluding the sample. Further, the influence factor of a sample is measured using MMD based on the shift in the distribution in the absence of that sample.
Abstract（参考訳）: プロトタイプネットワーク(PN)は単純だが効果的なショットラーニング戦略である。ユークリッド距離を計算して各クラスの原型表現に分類する,メートル法に基づくメタラーニング手法である。従来のPN属性は、すべてのサンプルと同等に重要であり、各クラスに属するサポートサンプルの埋め込みを単に平均化することでプロトタイプを生成する。そこで本研究では, 支持試料分布への影響に対応する試料に重みを付与するPNの新たなバージョンを提案する。試料を含まない試料分布の平均埋没量の最大誤差 (MMD) に基づいて, 試料の重み付けを算出した。さらに, 試料の有無の分布変化に基づいて, MMDを用いて試料の影響係数を測定した。

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