Fugu-MT 論文翻訳(概要): Single-Spin Readout and Quantum Sensing using Optomechanically Induced Transparency

論文の概要: Single-Spin Readout and Quantum Sensing using Optomechanically Induced Transparency

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2212.01481v2
Date: Tue, 11 Apr 2023 20:51:58 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-04-13 18:28:18.535282
Title: Single-Spin Readout and Quantum Sensing using Optomechanically Induced Transparency
Title（参考訳）: 光メカニカル誘起透明性を用いた単一スピン読み出しと量子センシング
Authors: Martin Koppenh\"ofer, Carl Padgett, Jeffrey V. Cady, Viraj Dharod, Hyunseok Oh, Ania C. Bleszynski Jayich, and A. A. Clerk
Abstract要約: 本稿では, このひずみ結合を, 光学的に誘起される透明度測定により, 機械的に媒介する単発スピンリードアウトに利用することを提案する。意外なことに、ダイヤモンド中の負電荷のシリコン空孔欠陥の測定時間は、単発光蛍光の読み出しよりも桁違いに短い。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: Solid-state spin defects are promising quantum sensors for a large variety of sensing targets. Some of these defects couple appreciably to strain in the host material. We propose to use this strain coupling for mechanically-mediated dispersive single-shot spin readout by an optomechanically-induced transparency measurement. Surprisingly, the estimated measurement times for negatively-charged silicon-vacancy defects in diamond are an order of magnitude shorter than those for single-shot optical fluorescence readout. Our scheme can also be used for general parameter-estimation metrology and offers a higher sensitivity than conventional schemes using continuous position detection.
Abstract（参考訳）: 固体スピン欠陥は、様々なセンサーターゲットのための量子センサーを約束している。これらの欠陥のいくつかは、ホスト材料に歪みを生じさせる。このひずみ結合を光学力学的に誘起される透過性測定により機械的に媒介する単発スピン読み出しに利用することを提案する。驚くべきことに、ダイヤモンド中の負電荷のシリコン空隙欠陥の測定時間は、単発光蛍光読み出しのそれよりも桁違いに短い。また,本手法は一般パラメータ推定法にも適用でき,連続位置検出を用いた従来の手法よりも感度が高い。

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