論文の概要: ISimDL: Importance Sampling-Driven Acceleration of Fault Injection
Simulations for Evaluating the Robustness of Deep Learning
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2303.08035v1
- Date: Tue, 14 Mar 2023 16:15:28 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-03-15 14:17:06.933289
- Title: ISimDL: Importance Sampling-Driven Acceleration of Fault Injection
Simulations for Evaluating the Robustness of Deep Learning
- Title(参考訳): ISimDL: 深層学習のロバスト性評価のための断層注入シミュレーションの重要サンプリング駆動高速化
- Authors: Alessio Colucci, Andreas Steininger, Muhammad Shafique
- Abstract要約: 我々は,重要なサンプリングに基づく障害シナリオを生成するために,ニューロンの感度を利用する新しい手法であるISimDLを提案する。
実験の結果, ランダムな一様サンプリングよりも臨界断層を選択する場合, 重要サンプリングは最大15倍の精度で, 100個未満の故障でその精度に達することがわかった。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 10.757663798809144
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Deep Learning (DL) systems have proliferated in many applications, requiring
specialized hardware accelerators and chips. In the nano-era, devices have
become increasingly more susceptible to permanent and transient faults.
Therefore, we need an efficient methodology for analyzing the resilience of
advanced DL systems against such faults, and understand how the faults in
neural accelerator chips manifest as errors at the DL application level, where
faults can lead to undetectable and unrecoverable errors. Using fault
injection, we can perform resilience investigations of the DL system by
modifying neuron weights and outputs at the software-level, as if the hardware
had been affected by a transient fault. Existing fault models reduce the search
space, allowing faster analysis, but requiring a-priori knowledge on the model,
and not allowing further analysis of the filtered-out search space. Therefore,
we propose ISimDL, a novel methodology that employs neuron sensitivity to
generate importance sampling-based fault-scenarios. Without any a-priori
knowledge of the model-under-test, ISimDL provides an equivalent reduction of
the search space as existing works, while allowing long simulations to cover
all the possible faults, improving on existing model requirements. Our
experiments show that the importance sampling provides up to 15x higher
precision in selecting critical faults than the random uniform sampling,
reaching such precision in less than 100 faults. Additionally, we showcase
another practical use-case for importance sampling for reliable DNN design,
namely Fault Aware Training (FAT). By using ISimDL to select the faults leading
to errors, we can insert the faults during the DNN training process to harden
the DNN against such faults. Using importance sampling in FAT reduces the
overhead required for finding faults that lead to a predetermined drop in
accuracy by more than 12x.
- Abstract(参考訳): ディープラーニング(DL)システムは多くのアプリケーションで普及しており、特別なハードウェアアクセラレータとチップを必要とする。
ナノ時代には、デバイスは永久的および一時的な障害の影響を受けやすくなってきた。
したがって,このような障害に対して高度なDLシステムのレジリエンスを解析し,その欠陥がDLアプリケーションレベルでエラーとして現れるかを理解するための効率的な手法が必要である。
故障注入を用いて, ソフトウェアレベルでのニューロンの重みや出力を, 過渡的故障の影響を受けていたかのように変更することにより, DLシステムのレジリエンス調査を行うことができる。
既存のフォールトモデルでは探索空間を縮小し、より高速な解析が可能だが、モデルに関する予備知識が必要であり、フィルタリングされた探索空間のさらなる解析はできない。
そこで本研究では,ニューロンの感度を利用した新しい手法であるisimdlを提案する。
モデルアンダーテストに関するアプリオリ知識がなければ、ISimDLは既存の作業と同等の検索スペースを削減し、長いシミュレーションで可能なすべての障害をカバーし、既存のモデル要求を改善することができる。
実験の結果, ランダムな一様サンプリングよりも臨界断層を選択する場合, 重要サンプリングは最大15倍の精度で, 100個未満の故障でその精度に達することがわかった。
さらに,信頼性の高いDNN設計,すなわちフォールト・アウェア・トレーニング(FAT)において,重要なサンプリングを行うための実用的ユースケースを紹介した。
ISimDLを使用してエラーにつながる障害を選択することで、DNNトレーニングプロセス中に障害を挿入して、そのような障害に対してDNNを強化できます。
FATにおける重要サンプリングを使用することで、所定の精度の低下につながる障害を見つけるのに必要なオーバーヘッドを12倍以上削減できる。
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