論文の概要: Qutrit state discrimination with mid-circuit measurements
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2309.11303v1
- Date: Wed, 20 Sep 2023 13:30:39 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-09-21 15:59:25.306012
- Title: Qutrit state discrimination with mid-circuit measurements
- Title(参考訳): 中間回路計測による量子状態の判別
- Authors: Naoki Kanazawa, Haruki Emori, David C. McKay
- Abstract要約: 量子ビット読み出しのための二値判別器を応用した中間回路計測に基づく識別手法を提案する。
我々の判別器はIQ判別器と同等の性能を示し、量子ビット制御のための標準量子プロセッサで容易に利用できる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.138120109831448
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Qutrit state readout is an important technology not only for execution of
qutrit algorithms but also for erasure detection in error correction circuits
and leakage error characterization of the gate set. Conventional technique
using a specialized IQ discriminator requires memory intensive IQ data for
input, and has difficulty in scaling up the system size. In this study, we
propose the mid-circuit measurement based discrimination technique which
exploits a binary discriminator for qubit readout. Our discriminator shows
comparable performance with the IQ discriminator, and readily available for
standard quantum processors calibrated for qubit control. We also demonstrate
our technique can reimplement typical benchmarking and characterization
experiments such as leakage randomized benchmarking and state population decay
measurement.
- Abstract(参考訳): 量子状態の読み出しは、キュートアルゴリズムの実行だけでなく、エラー訂正回路における消去検出やゲートセットのリークエラー評価にも重要な技術である。
特殊なiq判別器を用いた従来の手法では、入力にはメモリ集約型iqデータが必要であり、システムサイズのスケールアップが困難である。
本研究では,2進判別器を量子ビット読み出しに活用する中回路計測に基づく識別手法を提案する。
我々の判別器はIQ判別器と同等の性能を示し、量子ビット制御のための標準量子プロセッサで容易に利用できる。
また,本手法は,漏洩ランダム化ベンチマークや状態人口減衰測定など,典型的なベンチマークおよびキャラクタリゼーション実験を再実装できることを示す。
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