論文の概要: Intensity product-based optical sensing to beat the diffraction limit in an interferometer
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2403.13029v2
- Date: Tue, 28 May 2024 09:29:07 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-05-30 00:59:19.213708
- Title: Intensity product-based optical sensing to beat the diffraction limit in an interferometer
- Title(参考訳): 干渉計における回折限界に打ち勝つインテンシティ生成物に基づく光センシング
- Authors: Byoung S. Ham,
- Abstract要約: 典型的な干渉計では、干渉光子が量子センシングのように分解されない限り、分解能はK=1の場合の回折限界に留まる。
ここでは、量子センシングにおける投影測定法を干渉計に適応させ、さらに2乗根Kゲインを分解能で達成する。
プロジェクション測定では、干渉計の干渉縞をKth動力でKthオーダーの強度積を置き換えることができる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: The classically defined minimum uncertainty of the optical phase is known as the standard quantum limit or shot-noise limit (SNL) originating in the uncertainty principle of quantum mechanics. Based on SNL, the phase sensitivity is inversely proportional to the square root K, where K is the number of interfering photons or statistically measured events. Thus, using a high-power laser is advantageous to enhance sensitivity due to the square root K gain in the signal-to-noise ratio. In a typical interferometer, however, the resolution remains in the diffraction limit of the K=1 case unless the interfering photons are resolved as in quantum sensing. Here, a projection-measurement method in quantum sensing is adapted for an interferometer to achieve an additional square root K gain in resolution. For the projection measurement, the interference fringe of an interferometer can be Kth-powered to replace the Kth-order intensity product. To understand many-wave interference-caused enhanced resolution, several types of interferometers are numerically compared to draw corresponding resolution parameters. As a result, the achieved resolution by the Kth power to an N-slit interferometer exceeds the diffraction limit and the Heisenberg limit in quantum sensing.
- Abstract(参考訳): 古典的に定義された光学相の最小不確実性は、量子力学の不確実性原理に由来する標準量子極限またはショットノイズ極限(SNL)として知られている。
SNLに基づいて位相感度は正方根Kに逆比例し、Kは干渉光子数または統計的に測定された事象数である。
これにより、高出力レーザーを用いることで、信号対雑音比の平方根Kゲインによる感度を高めることができる。
しかし、典型的な干渉計では、量子センシングのように干渉光子が分解されない限り、分解能はK=1の場合の回折限界に留まる。
ここでは、量子センシングにおける投影測定法を干渉計に適応させ、さらに2乗根Kゲインを分解能で達成する。
プロジェクション測定では、干渉計の干渉縞をKth動力でKthオーダーの強度積を置き換えることができる。
マルチウェーブ干渉による高分解能化を理解するために、いくつかの種類の干渉計を数値的に比較し、対応する分解能パラメータを描画する。
その結果、KthパワーによるN-スリット干渉計の分解能は、量子センシングにおける回折限界とハイゼンベルク限界を超えている。
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