論文の概要: 3D Imaging of Complex Specular Surfaces by Fusing Polarimetric and Deflectometric Information

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2406.01994v1
• Date: Tue, 4 Jun 2024 06:24:07 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2024-06-05 17:50:34.146011
• Title: 3D Imaging of Complex Specular Surfaces by Fusing Polarimetric and Deflectometric Information
• Title（参考訳）: Fusing Polarimetric and Deflectometric Information による複素特異表面の3次元イメージング
• Authors: Jiazhang Wang, Oliver Cossairt, Florian Willomitzer,
• Abstract要約: そこで本研究では,新しい手法を用いて,反射光場に含まれる情報を符号化し,復号化するための計測原理を提案する。 提案手法では,SfPの非現実的正像像像の仮定を除去し,それぞれの結果を大幅に改善する。 複素形状の鏡面上での単発・多発計測を実演し,本手法について紹介する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 5.729076985389067
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: Accurate and fast 3D imaging of specular surfaces still poses major challenges for state-of-the-art optical measurement principles. Frequently used methods, such as phase-measuring deflectometry (PMD) or shape-from-polarization (SfP), rely on strong assumptions about the measured objects, limiting their generalizability in broader application areas like medical imaging, industrial inspection, virtual reality, or cultural heritage analysis. In this paper, we introduce a measurement principle that utilizes a novel technique to effectively encode and decode the information contained in a light field reflected off a specular surface. We combine polarization cues from SfP with geometric information obtained from PMD to resolve all arising ambiguities in the 3D measurement. Moreover, our approach removes the unrealistic orthographic imaging assumption for SfP, which significantly improves the respective results. We showcase our new technique by demonstrating single-shot and multi-shot measurements on complex-shaped specular surfaces, displaying an evaluated accuracy of surface normals below $0.6^\circ$.
• Abstract（参考訳）: 分光面の高精度かつ高速な3Dイメージングは、現在でも最先端の光学計測原理に大きな課題を呈している。 位相測定偏向法(PMD)や形状偏極法(SfP)のような頻繁に用いられる手法は、測定対象に関する強い仮定に依存し、医療画像、産業検査、バーチャルリアリティー、文化遺産分析などの幅広い応用分野におけるそれらの一般化性を制限する。 本稿では,新しい手法を用いて,光界に反射した光の情報を効果的に符号化し,復号する計測原理を提案する。 我々は,SfPから得られる偏光キューとMDから得られる幾何学的情報を組み合わせて,3次元計測におけるすべての曖昧さを解消する。 さらに,本手法では,SfPの非現実的正像像像の仮定を除去し,それぞれの結果を大幅に改善する。 複素形状の特異面上での単発・多発計測を実演し,0.6^\circ$以下の表面の正常値の評価精度を示す。

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