論文の概要: Mechanical characterization of a membrane with an on-chip loss shield in a cryogenic environment

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2503.22602v1
• Date: Fri, 28 Mar 2025 16:45:02 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-03-31 15:30:54.309104
• Title: Mechanical characterization of a membrane with an on-chip loss shield in a cryogenic environment
• Title（参考訳）: 低温環境におけるオンチップ損失シールド膜の構造解析
• Authors: Francesco Marzioni, Riccardo Natali, Michele Bonaldi, Antonio Borrielli, Enrico Serra, Bruno Morana, Francesco Marin, Francesco Marino, Nicola Malossi, David Vitali, Giovanni Di Giuseppe, Paolo Piergentili,
• Abstract要約: この研究は、この目的のために設計された金属薄膜のT=18mKまでの光学干渉計プローブによる機械的特性評価に焦点を当てている。 最低温度で最大6600万の機械的品質因子を明らかにするために、ストロボスコープ技術が利用されてきた。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.028124845703363974
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• Abstract: The quantum transduction of an rf/microwave signal to the optical domain, and viceversa, paves the way to novel technologies which exploit the advantages of each domain to perform quantum operations. Since electro-optomechanical devices implement a simultaneous coupling of a mechanical oscillator to both an rf/microwave field and an optical field, they are suitable for the realization of a quantum transducer. The membrane-in-the-middle setup is a possible solution, once that its vibrational mode is cooled down to ultra cryogenic temperature for achieving quantum operation. This work is focused on the mechanical characterization via an optical interferometric probe, down to T=18 mK, of a loss-shielded metalized membrane designed for this purpose. A stroboscopic technique has been exploited for revealing a mechanical quality factor up to 64 millions at the lowest temperature. In fact, with continuous illumination and a cryostat temperature below 1 K, the heat due to optical absorption is not efficiently dissipated anymore, and the membrane remains hotter than its environment.
• Abstract（参考訳）: rf/マイクロ波信号の光領域への量子変換と、その逆は、各領域の利点を利用して量子演算を行う新しい技術への道を開く。 電気オプトメカニカルデバイスは、rf/マイクロ波場と光場の両方に機械振動子の同時結合を実装しているので、量子トランスデューサの実現に適している。 振動モードを極低温に冷やして量子演算を達成すれば、中間層に膜を配置することは可能な解決策となる。 この研究は、この目的のために設計された金属薄膜のT=18mKまでの光学干渉計プローブによる機械的特性評価に焦点を当てている。 最低温度で最大6600万の機械的品質因子を明らかにするために、ストロボスコープ技術が利用されてきた。 実際、連続的な照明と1K以下の低温では、光吸収による熱は効率よく放散されず、膜は環境よりも高温のままである。

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