論文の概要: FastRef:Fast Prototype Refinement for Few-Shot Industrial Anomaly Detection
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2506.21398v1
- Date: Thu, 26 Jun 2025 15:46:28 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-06-27 19:53:10.172061
- Title: FastRef:Fast Prototype Refinement for Few-Shot Industrial Anomaly Detection
- Title(参考訳): FastRef:Fast Prototype Refinement for Few-Shot Industrial Anomaly Detection (特集:バイオサイバネティックス)
- Authors: Long Tian, Yufei Li, Yuyang Dai, Wenchao Chen, Xiyang Liu, Bo Chen,
- Abstract要約: FS-IAD (Few-shot Industrial Anomaly Detection) は, 自動検査システムにおいて重要な課題である。
本稿では,FS-IADのための新規かつ効率的なプロトタイプ改良フレームワークであるFastRefを提案する。
PatchCore、FastRecon、WinCLIP、AnomalyDINOの3つの競合するプロトタイプベースのFS-IADメソッドとFastRefを統合する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 18.487111110151115
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Few-shot industrial anomaly detection (FS-IAD) presents a critical challenge for practical automated inspection systems operating in data-scarce environments. While existing approaches predominantly focus on deriving prototypes from limited normal samples, they typically neglect to systematically incorporate query image statistics to enhance prototype representativeness. To address this issue, we propose FastRef, a novel and efficient prototype refinement framework for FS-IAD. Our method operates through an iterative two-stage process: (1) characteristic transfer from query features to prototypes via an optimizable transformation matrix, and (2) anomaly suppression through prototype alignment. The characteristic transfer is achieved through linear reconstruction of query features from prototypes, while the anomaly suppression addresses a key observation in FS-IAD that unlike conventional IAD with abundant normal prototypes, the limited-sample setting makes anomaly reconstruction more probable. Therefore, we employ optimal transport (OT) for non-Gaussian sampled features to measure and minimize the gap between prototypes and their refined counterparts for anomaly suppression. For comprehensive evaluation, we integrate FastRef with three competitive prototype-based FS-IAD methods: PatchCore, FastRecon, WinCLIP, and AnomalyDINO. Extensive experiments across four benchmark datasets of MVTec, ViSA, MPDD and RealIAD demonstrate both the effectiveness and computational efficiency of our approach under 1/2/4-shots.
- Abstract(参考訳): FS-IAD (Few-shot Industrial Anomaly Detection) は,データスカース環境での実用的自動検査システムにおいて重要な課題である。
既存のアプローチは主に、限られた通常のサンプルからプロトタイプを導出することに焦点を当てているが、彼らは典型的には、プロトタイプの代表性を高めるために、クエリ画像統計を体系的に組み込むことを無視する。
この問題に対処するため,FS-IADの新規かつ効率的なプロトタイプ改良フレームワークであるFastRefを提案する。
提案手法は,(1)クエリ特徴からプロトタイプへの最適化可能な変換行列による特性伝達,(2)プロトタイプアライメントによる異常抑制という,反復的な2段階のプロセスを通して動作する。
特徴伝達は, 試作機からのクエリ特徴の線形再構成によって達成されるが, FS-IADにおける異常抑制は, 通常のプロトタイプを多用した従来のIADとは異なり, 異常再構成の可能性が高くなる。
そこで我々は,非ガウス的標本化特徴量に対する最適輸送 (OT) を用いて, 試作機とその改良版とのギャップを計測し, 最小化し, 異常抑制を行う。
PatchCore、FastRecon、WinCLIP、AnomalyDINOの3つの競合するプロトタイプベースのFS-IADメソッドとFastRefを統合する。
MVTec, ViSA, MPDD, RealIAD の4つのベンチマークデータセットに対する大規模な実験により, 1/2/4ショット以下のアプローチの有効性と計算効率が示された。
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