論文の概要: A Gaussian Parameterization for Direct Atomic Structure Identification in Electron Tomography

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2512.15034v1
• Date: Wed, 17 Dec 2025 02:52:32 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-12-18 17:06:26.833327
• Title: A Gaussian Parameterization for Direct Atomic Structure Identification in Electron Tomography
• Title（参考訳）: 電子線トモグラフィーにおける直接原子構造同定のためのガウスパラメータ化
• Authors: Nalini M. Singh, Tiffany Chien, Arthur R. C. McCray, Colin Ophus, Laura Waller,
• Abstract要約: 我々は、個々の原子の位置と性質を直接解くために、トモグラフィー逆問題を再構成する。 この表現は、学習された構造に強い物理的先行を付与し、実世界のイメージングアーティファクトに対する堅牢性の向上を示す。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.6198237241838559
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Atomic electron tomography (AET) enables the determination of 3D atomic structures by acquiring a sequence of 2D tomographic projection measurements of a particle and then computationally solving for its underlying 3D representation. Classical tomography algorithms solve for an intermediate volumetric representation that is post-processed into the atomic structure of interest. In this paper, we reformulate the tomographic inverse problem to solve directly for the locations and properties of individual atoms. We parameterize an atomic structure as a collection of Gaussians, whose positions and properties are learnable. This representation imparts a strong physical prior on the learned structure, which we show yields improved robustness to real-world imaging artifacts. Simulated experiments and a proof-of-concept result on experimentally-acquired data confirm our method's potential for practical applications in materials characterization and analysis with Transmission Electron Microscopy (TEM). Our code is available at https://github.com/nalinimsingh/gaussian-atoms.
• Abstract（参考訳）: 原子電子トモグラフィー(AET)は、粒子の2次元トモグラフィー・プロジェクションのシーケンスを取得し、基礎となる3次元表現を計算的に解くことによって、3次元原子構造の決定を可能にする。 古典的トモグラフィーアルゴリズムは、関心の原子構造に後処理された中間体積表現を解く。 本稿では,個々の原子の位置と性質を直接解くために,トモグラフィ逆問題を再構成する。 我々は、原子構造をガウスの集合としてパラメータ化し、その位置と性質は学習可能である。 この表現は、学習された構造に強い物理的先行を付与し、実世界のイメージングアーティファクトに対する堅牢性の向上を示す。 実験で得られたデータに対するシミュレーション実験と概念実証の結果から,透過電子顕微鏡(TEM)による材料評価と解析における本手法の可能性が確認された。 私たちのコードはhttps://github.com/nalinimsingh/gaussian-atomsで利用可能です。

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