論文の概要: Case Study: Horizontal Side-Channel Analysis Attack against Elliptic Curve Scalar Multiplication Accelerator under Laser Illumination

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2603.19811v1
• Date: Fri, 20 Mar 2026 09:56:20 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-03-23 19:48:39.09658
• Title: Case Study: Horizontal Side-Channel Analysis Attack against Elliptic Curve Scalar Multiplication Accelerator under Laser Illumination
• Title（参考訳）: ケーススタディ:レーザー照射下での楕円曲線スカラー乗算加速器に対する水平側チャネル解析攻撃
• Authors: Dmytro Petryk, Ievgen Kabin, Peter Langendoerfer, Zoya Dyka,
• Abstract要約: サイドチャネル分析(SCA)とフォールトインジェクション(FI)攻撃は、暗号鍵を明らかにするために頻繁に使用される。 本稿では,Teledyne LeCroy の微分プローブを用いた楕円曲線スカラー加速器に対する SCA とレーザー照射の組み合わせについて述べる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
• Abstract: Devices employing cryptographic approaches have to be resistant to physical attacks. Side-Channel Analysis (SCA) and Fault Injection (FI) attacks are frequently used to reveal cryptographic keys. In this paper, we present a combined SCA and laser illumination attack against an Elliptic Curve Scalar Multiplication accelerator using a differential probe from Teledyne LeCroy. Our experiments show that laser illumination increases the power consumption of the chip, especially its static power consumption but the success of the horizontal power analysis attacks was changed insignificantly. We assume that using a laser with a high laser beam power and concentrating on measuring and analysing only static current can improve the attack success significantly. The horizontal attacks against public key cryptosystems exploiting the Static Consumption under Laser Illumination (SCuLI attacks) are novel and their potential is not investigated yet. These attacks can be especially dangerous against cryptographic chips manufactured in scaled technologies. If such attacks are feasible, appropriate countermeasures have to be proposed in the future.
• Abstract（参考訳）: 暗号化アプローチを採用するデバイスは、物理的な攻撃に耐性を持つ必要がある。 サイドチャネル分析(SCA)とフォールトインジェクション(FI)攻撃は、暗号鍵を明らかにするために頻繁に使用される。 本稿では,Teledyne LeCroy の微分プローブを用いた楕円曲線スカラー乗算器に対する SCA とレーザー照射の組み合わせについて述べる。 実験の結果, レーザー照射はチップの消費電力, 特に静電力消費を増加させるが, 水平電力解析攻撃の成功は著しく変化した。 レーザービームパワーの高いレーザーを用い, 静電流のみの測定と解析に集中させることで, 攻撃成功を著しく向上させることができると仮定した。 レーザー照射による静的消費(SCuLI攻撃)を利用した公開鍵暗号システムに対する水平攻撃は新規であり、その可能性はまだ検討されていない。 これらの攻撃は、大規模技術で製造された暗号チップに対して特に危険である。 このような攻撃が実現可能であれば、将来適切な対策が提案される必要がある。

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