論文の概要: 3D Gaussian Splatting for Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy Tomography Reconstruction
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2604.04693v1
- Date: Mon, 06 Apr 2026 14:01:43 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-04-07 15:49:19.215773
- Title: 3D Gaussian Splatting for Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy Tomography Reconstruction
- Title(参考訳): 3D Gaussian Splatting for annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy Tomography Reconstruction
- Authors: Beiyuan Zhang, Hesong Li, Ruiwen Shao, Ying Fu,
- Abstract要約: ADF-STEMトモグラフィーは多視点傾斜画像を統合することで3次元のナノスケール材料を再構成する。
傾斜角の散乱を安定化し、散乱ビュー正規化による一貫したデンザを確保するために$$係数を導入する。
45-viewと15-viewの傾きシリーズの実験では、デンザ・ガウシアンは元の傾きとより密接な2次元のプロジェクションと高忠実さの再現を行う。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 13.051560405222775
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Analytical Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy (ADF-STEM) tomography reconstructs nanoscale materials in 3D by integrating multi-view tilt-series images, enabling precise analysis of their structural and compositional features. Although integrating more tilt views improves 3D reconstruction, it requires extended electron exposure that risks damaging dose-sensitive materials and introduces drift and misalignment, making it difficult to balance reconstruction fidelity with sample preservation. In practice, sparse-view acquisition is frequently required, yet conventional ADF-STEM methods degrade under limited views, exhibiting artifacts and reduced structural fidelity. To resolve these issues, in this paper, we adapt 3D GS to this domain with three key components. We first model the local scattering strength as a learnable scalar field, denza, to address the mismatch between 3DGS and ADF-STEM imaging physics. Then we introduce a coefficient $γ$ to stabilize scattering across tilt angles, ensuring consistent denza via scattering view normalization. Finally, We incorporate a loss function that includes a 2D Fourier amplitude term to suppress missing wedge artifacts in sparse-view reconstruction. Experiments on 45-view and 15-view tilt series show that DenZa-Gaussian produces high-fidelity reconstructions and 2D projections that align more closely with original tilts, demonstrating superior robustness under sparse-view conditions.
- Abstract(参考訳): ADF-STEM(Analytical Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy)トモグラフィーは、多視点傾斜画像を統合することでナノスケールの材料を3次元に再構成し、その構造的および構成的特徴を正確に解析する。
傾斜ビューの統合は3次元再構成を改善するが、線量に敏感な材料にダメージを与えるような電子露光を必要とし、ドリフトや不整合を生じさせるため、復元の忠実さとサンプル保存のバランスをとるのが困難である。
実際には、スパースビュー取得は頻繁に必要であるが、従来のAFD-STEM法は、限られたビューで劣化し、アーティファクトを示し、構造的忠実度を低下させる。
これらの課題を解決するため,本論文では3つの重要な要素を用いて3次元GSをこの領域に適用する。
まず, 3DGS と ADF-STEM 画像物理のミスマッチに対処するため, 局所散乱強度を学習可能なスカラー場denza としてモデル化した。
次に、傾斜角の散乱を安定化し、散乱ビュー正規化による一貫したデンザを確保するために、$γ$の係数を導入する。
最後に,2次元フーリエ振幅項を含む損失関数を組み込んで,スパースビュー再構成における欠落したウェッジアーチファクトの抑制を行う。
45-viewと15-viewの傾きシリーズの実験では、デンザ・ガウスの高忠実度再構成と2次元プロジェクションが元の傾きとより密に一致し、スパースビュー条件下で優れた強靭性を示すことが示されている。
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