論文の概要: SynSur: An end-to-end generative pipeline for synthetic industrial surface defect generation and detection

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2604.26633v1
• Date: Wed, 29 Apr 2026 12:57:32 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-04-30 15:59:36.405438
• Title: SynSur: An end-to-end generative pipeline for synthetic industrial surface defect generation and detection
• Title（参考訳）: SynSur: 合成表面欠陥の生成と検出のためのエンドツーエンド生成パイプライン
• Authors: Paul Julius Kühn, Mika Pommeranz, Arjan Kuijper, Saptarshi Neil Sinha,
• Abstract要約: 合成欠陥生成とアノテーションのためのエンドツーエンドパイプラインを提案する。 パイプラインの重要なステージを解析し、プロンプト構築、LoRA選択、サンプルフィルタリングを行う。 本報告では,拡散型産業欠陥合成のエンドツーエンド評価について述べる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 4.219862887901752
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: The bottleneck in learning-based industrial defect detection is often limited not by model capacity, but by the scarcity of labeled defect data: defects are rare, annotations are expensive, and collecting balanced training sets is slow. We present an end-to-end pipeline for synthetic defect generation and annotation, combining Vision-Language-Model-based prompts, LoRA-adapted diffusion, mask-guided inpainting, and sample filtering with automatic label derivation, and demonstrates the potential of real data with realistic synthetic samples to overcome data scarcity. The evaluation is conducted on, a challenging dataset of pitting defects on ball screw drives, and then on a subset of the Mobile phone screen surface defect segmentation dataset (MSD) dataset to test cross-domain transfer. Beyond downstream detector performance, we analyze key stages of the pipeline, including prompt construction, LoRA selection, and sample filtering with DreamSim and CLIPScore, to understand which synthetic samples are both realistic and useful. Experiments with YOLOv26, YOLOX, and LW-DETR show that synthetic-only training does not replace real data. When combined with real data, synthetic defects can preserve performance and yield modest gains in selected BSData training regimes. The MSD transfer study shows that the overall pipeline structure carries over to a second industrial inspection domain, while also highlighting the importance of domain-specific adaptation and annotation-quality control. Overall, the paper provides an end-to-end assessment of diffusion-based industrial defect synthesis and shows that its strongest value lies in strengthening scarce real datasets rather than substituting for them.
• Abstract（参考訳）: 学習に基づく産業的欠陥検出のボトルネックは、しばしばモデルキャパシティではなく、ラベル付き欠陥データの不足によって制限される。 本稿では,視覚言語モデルに基づくプロンプト,LoRA適応拡散,マスク誘導インペインティング,および自動ラベル導出によるサンプルフィルタリングを組み合わせた合成欠陥生成とアノテーションのためのエンドツーエンドパイプラインを提案し,実際のデータの可能性を示し,データの不足を克服する。 この評価は、ボールスクリュードライブの穴あけ欠陥のデータセットと、携帯電話画面表面欠陥セグメンテーションデータセット(MSD)のサブセットを用いて、クロスドメイン転送をテストする。 下流検出器の性能以外にも、パイプラインの重要なステージを解析し、即時構築、LoRA選択、DreamSimとCLIPScoreによるサンプルフィルタリングを行い、どの合成サンプルが現実的かつ有用かを理解する。 YOLOv26、YOLOX、LW-DETRによる実験は、合成専用トレーニングが実際のデータを置き換えるものではないことを示している。 実データと組み合わせると、合成欠陥はパフォーマンスを保ち、選択されたBSDataトレーニングレギュレーションで適度な利得を得ることができる。 MSDトランスファー研究は、パイプライン構造全体が第2の産業検査ドメインに受け継がれる一方で、ドメイン固有の適応とアノテーション品質制御の重要性を強調していることを示している。 全体として,拡散に基づく工業的欠陥合成のエンドツーエンド評価を行い,その最大の価値は,その代替ではなく,少ない実データセットの強化にあることを示す。

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