論文の概要: SENTRY: Statistical Reliability Analysis of Vision Transformers Under Soft Errors
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2606.07620v1
- Date: Sat, 30 May 2026 11:14:26 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-06-09 14:42:05.084128
- Title: SENTRY: Statistical Reliability Analysis of Vision Transformers Under Soft Errors
- Title(参考訳): SENTRY:ソフトエラー下での視覚変換器の統計的信頼性解析
- Authors: Pramit Kumar Bhaduri, Mahdi Taheri, Samira Nazari, Maksim Jenihhin, Christian Herglotz, Michael Hubner,
- Abstract要約: ViTは最先端の精度を提供するが、その膨大なパラメータは、徹底的なフォールトインジェクションキャンペーンを不可能にしている。
失敗率は、わずか数千のサンプルを使用して、99%の信頼性で1%のマージンの範囲内でバウンドされていることが示されている。
この手法は、徹底的なアプローチと比較して、実験コストの最大10,700倍の削減を実現する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 2.2914260353572513
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
- Abstract: With the growth of Vision Transformers in safety-critical domains like autonomous systems and medical imaging, ensuring their reliability against soft errors is paramount. While ViTs offer state-of-the-art accuracy, their massive parameter counts render exhaustive fault injection campaigns infeasible. To bridge this gap, a statistical fault injection framework is presented, leveraging finite-population sampling theory to provide formal reliability guarantees. It is demonstrated that failure rates are bounded within a 1% margin at 99\% confidence using only a few thousand samples, regardless of model scale. This methodology achieves up to a 10,700 times reduction in experimental cost compared to exhaustive approaches, while preserving the ability to localize vulnerabilities across architectural components. Through extensive evaluation of different architectures like ViT-Tiny and ViT-Small, a highly non-uniform reliability landscape is uncovered. It is shown that while only 3% of FP32 bit-flips result in failure, the vast majority of these events lead to catastrophic accuracy collapse. Specific vulnerabilities are localized to normalization layers and critical exponent bits within the IEEE-754 format, providing a mathematical foundation and actionable insights for the design of hardened, edge-deployed ViT architectures.
- Abstract(参考訳): 自律システムや医療画像などの安全クリティカルな領域におけるビジョントランスフォーマーの成長により、ソフトエラーに対する信頼性が最優先される。
ViTは最先端の精度を提供するが、その膨大なパラメーター数によって、徹底的なフォールトインジェクションキャンペーンは実現不可能である。
このギャップを埋めるために、有限人口サンプリング理論を利用して統計的故障注入フレームワークを提示し、正式な信頼性を保証する。
モデルスケールに関係なく, 失敗率はわずか数千サンプルを用いて, 信頼度99\%で1%の範囲内でバウンドされることが実証された。
この手法は、アーキテクチャコンポーネント間で脆弱性をローカライズする能力を保ちながら、徹底的なアプローチと比較して、実験コストを最大10,700倍削減する。
ViT-Tiny や ViT-Small のような異なるアーキテクチャの広範な評価により、一様でない信頼性の高いランドスケープが明らかになった。
FP32ビットフリップの3%しか失敗に至らなかったが、これらの事象の大部分は破滅的な精度の崩壊を招いた。
特定の脆弱性はIEEE-754フォーマット内の正規化レイヤと重要な指数ビットに局所化され、強化されたエッジデプロイされたViTアーキテクチャの設計のための数学的基礎と実行可能な洞察を提供する。
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