論文の概要: Experimental Characterization and Modeling of Measurement-Induced State-Transitions in a Fluxonium Superconducting Qubit

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2606.17866v1
• Date: Tue, 16 Jun 2026 12:36:55 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-06-17 17:15:32.432327
• Title: Experimental Characterization and Modeling of Measurement-Induced State-Transitions in a Fluxonium Superconducting Qubit
• Title（参考訳）: フラクソニウム超伝導量子ビットにおける測定誘起状態遷移の実験的評価とモデル化
• Authors: Martijn F. S. Zwanenburg, Jinlun Hu, Eugene Y. Huang, Figen Yilmaz, Siddharth Singh, Christian Kraglund Andersen,
• Abstract要約: フル外部フラックス領域上でのフラクソニウム量子ビットにおける測定誘起状態遷移(MIST)を実験的に特徴づけた。 ある種のフラックス点において、MIST誤差はフラキソニウムのスーパーインダクタの伝送線のような配列モードを含む遷移によって支配される。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 1.8665912256665047
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Superconducting qubits are most often measured using dispersive readout, which, ideally, implements a projective quantum non-demolition (QND) measurement. While a larger readout drive can increase the signal and, thus, reduce discrimination errors in the readout, strong microwave drives may also cause non-QND errors by driving the qubit to a state outside the computational subspace. In this work, we experimentally characterize measurement-induced state transitions (MIST) in a fluxonium qubit over its full external flux range. We further numerically calculate the MIST errors, and find that the theory accurately predicts eleven experimentally identified regions with increased MIST. In addition to transitions to higher fluxonium levels, we also find that, at certain flux points, MIST errors are dominated by transitions that include the transmission-line-like array modes of the fluxonium's superinductor. The excellent match between theory and experiment validates that the models accurately predict the occurrence of MIST in these systems, and further highlights the influence of array modes in fluxonium readout.
• Abstract（参考訳）: 超伝導量子ビットは、しばしば分散読み出しを用いて測定されるが、理想的には、射影量子非分解(QND)測定を実装している。 より大きな読み出しドライブは信号を増やし、読み出しにおける識別誤差を低減することができるが、強いマイクロ波ドライブは、キュービットを計算部分空間外の状態に駆動することで、QND以外のエラーを引き起こす可能性がある。 本研究では, フル外部フラックス領域上のフラクソニウム量子ビットにおける測定誘起状態遷移(MIST)を実験的に特徴づける。 さらに, MIST の誤差を数値的に算出し, MIST を増大させた11個の実験領域を正確に予測する。 フラキソニウムレベルへの遷移に加えて、あるフラキソニウム点において、MISTエラーはフラキソニウムのスーパーインダクタの伝送線状配列モードを含む遷移によって支配される。 理論と実験の優れた一致は、モデルがこれらのシステムにおけるMISTの発生を正確に予測していることを示し、フラクソニウムの読み出しにおける配列モードの影響をさらに強調する。

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