論文の概要: Long-lived memory effects in the defect bath of superconducting qubits
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2608.10087v1
- Date: Mon, 10 Aug 2026 18:01:15 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-08-12 19:14:45.773443
- Title: Long-lived memory effects in the defect bath of superconducting qubits
- Title(参考訳): 超伝導量子ビットの欠陥浴における長期記憶効果
- Abstract要約: 量子ビットに結合した2レベル系欠陥の電場チューニングにより,超伝導トランスモン量子ビットの欠陥浴における長期記憶効果を明らかにする。
我々はTLS環境におけるいくつかのヒステリックな影響を数秒の記憶で観察し、個々のTLS欠陥の寿命をはるかに超えている。
この情報は、量子ビット安定化と量子誤り訂正プロトコルを改善するために用いられる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.35735101426913934
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We reveal long-lived memory effects in the defect bath of a superconducting transmon qubit through electric-field tuning of two-level system (TLS) defects coupled to the qubit. Using a fast TLS mapping method we observe several hysteretic effects in the TLS environment with memory timescales of the order of seconds, far beyond the lifetimes of individual TLS defects. The observations can be explained by TLS coupling to electric field-polarised charge fluctuators in the defect bath. Our method enables detailed mapping of the dynamics of the bath's coupled microscopic degrees of freedom and the associated memory effects which can introduce temporally correlated noise. This information may be used to improve qubit-stabilisation and quantum error correction protocols.
- Abstract(参考訳): 超伝導トランスモン量子ビットの欠陥浴における長期記憶効果は、2レベルシステム(TLS)欠陥を量子ビットに結合した電場チューニングにより明らかにする。
高速TLSマッピング法を用いて、TLS環境における複数のヒステリック効果を、個々のTLS欠陥の寿命をはるかに超える数秒のメモリタイムスケールで観察する。
この観測は、欠陥浴中における電界偏極電荷ゆらぎ器とのTLS結合によって説明できる。
本手法は, 浴槽の結合した顕微鏡的自由度と時間的相関雑音を生じさせる関連記憶効果のダイナミックスを詳細にマッピングすることを可能にする。
この情報は、量子ビット安定化と量子誤り訂正プロトコルを改善するために用いられる。
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