論文の概要: Surviving readout errors and incomplete postselection in monitored quantum circuits

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2610.20712v1
• Date: Wed, 14 Oct 2026 18:00:02 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-10-16 19:13:15.996331
• Title: Surviving readout errors and incomplete postselection in monitored quantum circuits
• Title（参考訳）: 監視量子回路における読み出し誤差と不完全ポストセレクション
• Abstract要約: 監視量子回路における読み出し誤差がダイナミクスに与える影響について検討する。 電荷吸収遷移は有限誤差速度で継続する。 ゆらぎを量子的および古典的コントリビューションに分解することにより、不完全なポストセレクションがノイズ誘起混合を緩和するのに十分なトラジェクトリメモリを保持する最小マークを示す。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
• Abstract: We study how readout errors affect dynamics in monitored quantum circuits. Such errors make postselection effectively incomplete, conditioning trajectories on imperfect rather than true records. Focusing on U(1)-symmetric circuits, we find that the charge-sharpening transition survives at a finite error rate, with the sharp phase's vanishing fluctuations replaced by a finite steady-state plateau. The charge fluctuations show a shallow minimum near the ideal transition point as a function of measurement rate, signaling the competition between measurement-induced purification and noise-induced mixing. By decomposing the fluctuations into quantum and classical contributions, we show the minimum marks where incomplete postselection still retains enough trajectory memory to attenuate noise-induced mixing, leaving a detectable signature of the transition even in a noisy setting. Mid-circuit measurements are far harder to mitigate against readout errors than standard end-of-circuit ones, because the errors corrupt the postselection itself; the decomposition therefore offers a minimal mitigation framework and a route to locate the transition directly from experimental data. Our results show that charge sharpening survives readout errors in a quantitative and experimentally accessible way.
• Abstract（参考訳）: 監視量子回路における読み出し誤差がダイナミクスに与える影響について検討する。 このような誤りは、ポストセレクションを効果的に不完全にし、真のレコードよりも不完全な軌道を条件づける。 U(1)-対称回路に焦点をあてると、電荷吸収遷移は有限誤差速度で継続し、シャープ位相の消滅ゆらぎは有限定常プラトーに置き換わる。 電荷変動は、測定速度の関数として理想的な遷移点付近の浅い最小値を示し、測定誘起浄化とノイズ誘起混合の競合を示す。 ゆらぎを量子的および古典的寄与に分解することにより、不完全なポストセレクションがノイズ誘起混合を抑えるのに十分なトラジェクトリメモリを保持する最小マークを示し、ノイズ条件下であっても遷移の検出可能なシグネチャを残す。 回路の中間測定は、誤りがポストセレクション自体を破損させたため、通常の回路の終端よりも読み出し誤差を緩和することがはるかに難しく、したがって分解は最小限の緩和フレームワークと実験データから遷移を直接検出する経路を提供する。 以上の結果から,電荷の急激化は定量的かつ実験的に到達可能な方法で読み出し誤差を克服できることが示唆された。

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