論文の概要: Randomized linear gate set tomography
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2010.12235v1
- Date: Fri, 23 Oct 2020 08:46:11 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-27 22:54:26.701828
- Title: Randomized linear gate set tomography
- Title（参考訳）: ランダム化線形ゲートセットトモグラフィ
- Authors: Yanwu Gu, Rajesh Mishra, Berthold-Georg Englert, Hui Khoon Ng
- Abstract要約: 実装が容易なゲートセットトモグラフィーであるランダム化線形ゲートセットトモグラフィーを導入する。
我々は、IBM Quantum Experience Platformで実施されたシミュレーション例と実験を通して、提案手法の性能を実証する。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Characterizing the noise in the set of gate operations that form the building
blocks of a quantum computational device is a necessity for assessing the
quality of the device. Here, we introduce randomized linear gate set
tomography, an easy-to-implement gate set tomography procedure that combines
the idea of state-preparation-and-measurement-error-free characterization of
standard gate set tomography with no-design randomized tomographic circuits and
computational ease brought about by an appropriate linear approximation. We
demonstrate the performance of our scheme through simulated examples as well as
experiments done on the IBM Quantum Experience Platform. In each case, we see
that the performance of our procedure is comparable with that of standard
gateset tomography, while requiring no complicated tomographic circuit design
and taking much less computational time in deducing the estimate of the noise
parameters. This allows for straightforward on-the-fly characterization of the
gate operations in an experiment.
- Abstract（参考訳）: 量子計算装置の構成要素を形成するゲート操作の集合におけるノイズを特徴づけることは、装置の品質を評価する上で必要である。
そこで我々は,無設計のランダム化トモグラフィによる標準ゲートセットトモグラフィーと,適切な線形近似による計算容易性を組み合わせた,手軽に実装可能なゲートセットトモグラフィー手法であるランダム化リニアセットトモグラフィを導入する。
我々は、シミュレーション例とIBM Quantum Experience Platformで行われた実験を通して、提案手法の性能を実証する。
いずれの場合においても, 提案手法の性能は標準ゲートセットトモグラフィと同等であり, 複雑なトモグラフィ回路設計を必要とせず, ノイズパラメータの推定に要する時間を大幅に削減できることがわかった。
これにより、実験におけるゲート操作の直接的なオンザフライキャラクタリゼーションが可能になる。
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