論文の概要: Electroabsorption in gated GaAs nanophotonic waveguides
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2102.06119v1
- Date: Thu, 11 Feb 2021 16:59:00 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-11 12:01:53.544081
- Title: Electroabsorption in gated GaAs nanophotonic waveguides
- Title(参考訳): ゲートGaAsナノフォトニック導波路の電気吸収
- Authors: Ying Wang, Ravitej Uppu, Xiaoyan Zhou, Camille Papon, Sven Scholz,
Andreas D. Wieck, Arne Ludwig, Peter Lodahl, Leonardo Midolo
- Abstract要約: 我々は、薄いGaAs/Al$_0.3$Ga$_0.7$Asナノフォトニック導波路の電気吸収の解析を、埋め込み$p$-$i$-$n$接合で行う。
異なる長さの導波路による伝送を測定することにより、電場、波長、温度の関数として伝搬損失を導出する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 2.8863738687110403
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We report on the analysis of electroabsorption in thin
GaAs/Al$_{0.3}$Ga$_{0.7}$As nanophotonic waveguides with an embedded
$p$-$i$-$n$ junction. By measuring the transmission through waveguides of
different lengths, we derive the propagation loss as a function of electric
field, wavelength, and temperature. The results are in good agreement with the
Franz-Keldysh model of electroabsorption extending over 200 meV below the GaAs
bandgap, i.e. in the 910--970 nm wavelength range. We find a pronounced
residual absorption in forward bias, which we attribute to Fermi-level pinning
at the waveguide surface, producing over 20 dB/mm loss at room temperature.
These results are essential for understanding the origin of loss in
nanophotonic devices operating in the emission range of self-assembled InAs
semiconductor quantum dots, towards the realization of scalable quantum
photonic integrated circuits.
- Abstract(参考訳): 極薄GaAs/Al$_{0.3}$Ga$_{0.7}$Asナノフォトニック導波路の電気吸収の解析について報告する。
異なる長さの導波路による伝送を計測することにより、電界、波長、温度の関数として伝搬損失を導出する。
この結果は、gaasバンドギャップの200mev以下、すなわち910--970nmの波長範囲に広がるフランツ・ケルディッシュの電気吸収モデルとよく一致している。
その結果,導波路表面のフェルミレベルピンニングにより,室温で20db/mm以上の損失が生じた。
これらの結果は、スケーラブルな量子フォトニック集積回路の実現に向けて、自己組立InAs半導体量子ドットの放出範囲で動作するナノフォトニックデバイスにおける損失の起源を理解するために不可欠である。
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