論文の概要: Changes in electric-field noise due to thermal transformation of a
surface ion trap
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2103.04482v2
- Date: Fri, 15 Jul 2022 23:17:18 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-08 20:18:00.243668
- Title: Changes in electric-field noise due to thermal transformation of a
surface ion trap
- Title（参考訳）: 表面イオントラップの熱変換による電界ノイズの変化
- Authors: Maya Berlin-Udi, Clemens Matthiesen, P. N. Thomas Lloyd, Alberto M.
Alonso, Crystal Noel, Benjamin Saarel, Christine A. Orme, Chang-Eun Kim, Art
J. Nelson, Keith G. Ray, Vincenzo Lordi, Hartmut H\"affner
- Abstract要約: 本研究の目的は,金属表面の微視的特性と電界雑音特性を照らし出すことである。
本システムでは、金属フィルムの長寿命熱処理により、その膜表面から発生する電界雑音の大きさが増大する可能性がある。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We aim to illuminate how the microscopic properties of a metal surface map to
its electric-field noise characteristics. In our system, prolonged heat
treatments of a metal film can induce a rise in the magnitude of the
electric-field noise generated by the surface of that film. We refer to this
heat-induced rise in noise magnitude as a thermal transformation. The
underlying physics of this thermal transformation process is explored through a
series of heating, milling, and electron treatments performed on a single
surface ion trap. Between these treatments, $^{40}$Ca$^+$ ions trapped
70~$\mu$m above the surface of the metal are used as detectors to monitor the
electric-field noise at frequencies close to 1~MHz. An Auger spectrometer is
used to track changes in the composition of the contaminated metal surface.
With these tools we investigate contaminant deposition, chemical reactions, and
atomic restructuring as possible drivers of thermal transformations.
- Abstract（参考訳）: 本研究の目的は,金属表面の微視的特性と電界雑音特性を照らし出すことである。
本システムでは、金属フィルムの長時間熱処理により、そのフィルムの表面から発生する電界ノイズの大きさが増大する可能性がある。
この熱による音の大きさの上昇を熱変換と呼ぶ。
この熱変換過程の基礎となる物理は、1つの表面イオントラップで一連の加熱、ミリング、電子処理によって探究される。
これらの処理の間に、金属の表面から70〜$mu$mを捕捉した$^{40}$ca$^+$ イオンが1mhz付近の周波数で電界ノイズを監視する検出器として使用される。
オーガー分光計は汚染された金属表面の組成の変化を追跡するために用いられる。
これらのツールを用いて, 汚染物質沈着, 化学反応, 原子再構成を熱変換の要因として検討する。
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