Fugu-MT 論文翻訳(概要): Susceptibility of Trapped-Ion Qubits to Low-Dose Radiation Sources

論文の概要: Susceptibility of Trapped-Ion Qubits to Low-Dose Radiation Sources

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2105.02753v2
Date: Wed, 2 Jun 2021 23:45:39 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-04-01 07:49:40.124722
Title: Susceptibility of Trapped-Ion Qubits to Low-Dose Radiation Sources
Title（参考訳）: 低線量放射線源に対するトラップイオン量の影響
Authors: Jiafeng Cui, A.J. Rasmusson, Marissa D'Onofrio, Yuanheng Xie, Evangeline Wolanski, and Philip Richerme
Abstract要約: イオン化放射線の少ない線量に対するトラップイオン量子系のリアルタイム感受性について検討した。低線量放射線源の存在下では,イオントラップ性能の定量的劣化は認められなかった。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: We experimentally study the real-time susceptibility of trapped-ion quantum systems to small doses of ionizing radiation. We expose an ion-trap apparatus to a variety of $\alpha$, $\beta$, and $\gamma$ sources and measure the resulting changes in trapped-ion qubit lifetimes, coherence times, gate fidelities, and motional heating rates. We found no quantifiable degradation of ion trap performance in the presence of low-dose radiation sources for any of the measurements performed. This finding is encouraging for the long-term prospects of using ion-based quantum information systems in extreme environments, indicating that much larger doses may be required to induce errors in trapped-ion quantum processors.
Abstract（参考訳）: 閉じ込められたイオン量子システムの少量の電離放射線に対するリアルタイム感受性を実験的に検討した。我々は、イオントラップ装置を様々な$\alpha$、$\beta$、$\gamma$ソースに公開し、閉じ込められたイオン量子ビットライフタイム、コヒーレンス時間、ゲートフィダリティ、および動きの加熱速度の変化を測定する。その結果,低線量放射線源の存在下でのイオントラップ性能の定量的劣化は認められなかった。この発見は、極端環境におけるイオンベースの量子情報システムの使用の長期的展望を助長し、閉じ込められたイオン量子プロセッサのエラーを誘発するために、はるかに大きな線量を必要とする可能性があることを示唆している。

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