論文の概要: Fast Bayesian tomography of a two-qubit gate set in silicon
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2107.14473v1
- Date: Fri, 30 Jul 2021 07:56:04 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-03-20 09:12:46.018901
- Title: Fast Bayesian tomography of a two-qubit gate set in silicon
- Title(参考訳): シリコン中の2量子ゲートの高速ベイズトモグラフィー
- Authors: T. J. Evans, W. Huang, J. Yoneda, R. Harper, T. Tanttu, K. W. Chan, F.
E. Hudson, K. M. Itoh, A. Saraiva, C. H. Yang, A. S. Dzurak, and S. D.
Bartlett
- Abstract要約: 高速ベイズトモグラフィー(FBT)と呼ばれる自己整合性プロセストモグラフィーに対するベイズ的アプローチを導入する。
シリコンベースのスピンキュービットデバイスにセットされた2量子ゲートの特性を実験的に実証した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Benchmarking and characterising quantum states and logic gates is essential
in the development of devices for quantum computing. We introduce a Bayesian
approach to self-consistent process tomography, called fast Bayesian tomography
(FBT), and experimentally demonstrate its performance in characterising a
two-qubit gate set on a silicon-based spin qubit device. FBT is built on an
adaptive self-consistent linearisation that is robust to model approximation
errors. Our method offers several advantages over other self-consistent
tomographic methods. Most notably, FBT can leverage prior information from
randomised benchmarking (or other characterisation measurements), and can be
performed in real time, providing continuously updated estimates of full
process matrices while data is acquired.
- Abstract(参考訳): 量子状態と論理ゲートのベンチマークと特徴付けは、量子コンピューティングのためのデバイスの開発に不可欠である。
本研究では,FBT(Fast Bayesian tomography)と呼ばれる自己整合性プロセストモグラフィに対するベイズ的アプローチを導入し,シリコン系スピン量子ビットデバイスにセットした2量子ゲートの特性を実験的に実証する。
fbt は近似誤差のモデル化にロバストな適応自己整合線形化に基づいている。
本手法は他の自己整合トモグラフィー法に比べていくつかの利点がある。
最も注目すべきは、FBTはランダム化されたベンチマーク(または他の特徴付け測定)からの事前情報を活用することができ、データの取得中に全プロセス行列を継続的に更新して、リアルタイムで実行できることである。
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