論文の概要: Computational ghost imaging for transmission electron microscopy

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2204.09997v1
• Date: Thu, 21 Apr 2022 09:43:54 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-02-16 03:45:41.449058
• Title: Computational ghost imaging for transmission electron microscopy
• Title（参考訳）: 透過電子顕微鏡によるゴーストイメージング
• Authors: Akhil Kallepalli, Lorenzo Viani, Daan Stellinga, Enzo Rotunno, Ming-Jie Sun, Richard Bowman, Paolo Rosi, Stefano Frabboni, Roberto Balboni, Andrea Migliori, Vincenzo Grillo, Miles Padgett
• Abstract要約: 本研究では,電子顕微鏡におけるゴーストイメージングの計算手法を用いて,必要な総強度の低減を図っている。 電子に対する同等の高分解能光空間光変調器の技術的欠如は、異なるアプローチを追求する必要があることを意味する。 電気的に帯電した金属針の分布をビーム構造に利用したビーム整形技術と、その結果の非直交パターンを扱う新しい再構成手法について述べる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 4.8776835876287805
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: While transmission electron microscopes (TEM) can achieve a much higher resolution than optical microscopes, they face challenges of damage to samples during the high energy processes involved. Here, we explore using computational ghost imaging techniques in electron microscopy to reduce the total required intensity. The technological lack of the equivalent high-resolution, optical spatial light modulator for electrons means that a different approach needs to be pursued. To this end, we show a beam shaping technique based on the use of a distribution of electrically charged metal needles to structure the beam, alongside a novel reconstruction method to handle the resulting highly non-orthogonal patterns. Second, we illustrate the application of this ghost imaging approach in electron microscopy. To test the full extent of the capabilities of this technique, we realised an analogous optical setup method. In both regimes, the ability to reduce the amount of total illumination intensity is evident in comparison to raster scanning.
• Abstract（参考訳）: 透過電子顕微鏡(TEM)は光学顕微鏡よりもはるかに高分解能を達成できるが、高エネルギー過程における試料の損傷の課題に直面している。 本稿では,電子顕微鏡における計算ゴーストイメージング技術を用いて,全強度の低減について検討する。 電子に対する同等の高分解能光空間光変調器の技術的欠如は、異なるアプローチを追求する必要があることを意味する。 そこで本研究では,電気的に帯電した金属針の分布を利用してビームを構成するビーム整形法と,得られた非正方形パターンを扱う新しい再構成法を提案する。 次に,このゴーストイメージング手法の電子顕微鏡への応用について述べる。 本手法の全機能をテストするために,類似の光学セットアップ法を考案した。 どちらの方法においても、ラスター走査と比較して、全照明強度を減少させる能力は明らかである。

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