論文の概要: Disentangling multiple scattering with deep learning: application to
strain mapping from electron diffraction patterns
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2202.00204v1
- Date: Tue, 1 Feb 2022 03:53:39 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-02-02 23:49:34.180926
- Title: Disentangling multiple scattering with deep learning: application to
strain mapping from electron diffraction patterns
- Title(参考訳): 深層学習による多重散乱の遠方性:電子回折パターンからのひずみマッピングへの応用
- Authors: Joydeep Munshi, Alexander Rakowski, Benjamin H Savitzky, Steven E
Zeltmann, Jim Ciston, Matthew Henderson, Shreyas Cholia, Andrew M Minor,
Maria KY Chan, and Colin Ophus
- Abstract要約: 我々は、高非線形電子回折パターンを定量的構造因子画像に変換するために、FCU-Netと呼ばれるディープニューラルネットワークを実装した。
結晶構造の異なる組み合わせを含む20,000以上のユニークな動的回折パターンを用いてFCU-Netを訓練した。
シミュレーションされた回折パターンライブラリ、FCU-Netの実装、訓練されたモデルの重み付けは、オープンソースリポジトリで自由に利用可能です。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 48.53244254413104
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Implementation of a fast, robust, and fully-automated pipeline for crystal
structure determination and underlying strain mapping for crystalline materials
is important for many technological applications. Scanning electron
nanodiffraction offers a procedure for identifying and collecting strain maps
with good accuracy and high spatial resolutions. However, the application of
this technique is limited, particularly in thick samples where the electron
beam can undergo multiple scattering, which introduces signal nonlinearities.
Deep learning methods have the potential to invert these complex signals, but
previous implementations are often trained only on specific crystal systems or
a small subset of the crystal structure and microscope parameter phase space.
In this study, we implement a Fourier space, complex-valued deep neural network
called FCU-Net, to invert highly nonlinear electron diffraction patterns into
the corresponding quantitative structure factor images. We trained the FCU-Net
using over 200,000 unique simulated dynamical diffraction patterns which
include many different combinations of crystal structures, orientations,
thicknesses, microscope parameters, and common experimental artifacts. We
evaluated the trained FCU-Net model against simulated and experimental 4D-STEM
diffraction datasets, where it substantially out-performs conventional analysis
methods. Our simulated diffraction pattern library, implementation of FCU-Net,
and trained model weights are freely available in open source repositories, and
can be adapted to many different diffraction measurement problems.
- Abstract(参考訳): 高速でロバストで完全自動化された結晶構造決定用パイプラインの実装と結晶材料のひずみマッピングは、多くの技術応用において重要である。
走査型電子ナノ回折は、高い精度と高い空間分解能でひずみマップを同定し収集する手順を提供する。
しかし、特に電子ビームが多重散乱し、信号の非線形性をもたらす厚い試料では、この技術の適用は限られている。
深層学習法はこれらの複雑な信号を反転させる可能性があるが、以前の実装は結晶構造や顕微鏡パラメータ位相空間の小さなサブセットにのみ訓練されている。
本研究では,fcu-netと呼ばれるフーリエ空間の複素値深層ニューラルネットワークを実装し,高非線形電子回折パターンを対応する定量的構造因子画像に変換する。
結晶構造, 配向, 厚さ, 顕微鏡パラメータ, 実験器具の様々な組み合わせを含む20,000以上のユニークな動的回折パターンを用いてFCU-Netを訓練した。
シミュレーションおよび実験による4d-stem回折データセットに対するfcu-netモデルの評価を行った。
シミュレーションされた回折パターンライブラリ、FCU-Netの実装、訓練されたモデルの重み付けはオープンソースリポジトリで自由に利用可能であり、様々な回折測定問題に適応できる。
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