論文の概要: Deflectometry for specular surfaces: an overview

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2204.11592v1
• Date: Sun, 10 Apr 2022 22:17:47 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2022-05-01 09:26:26.729099
• Title: Deflectometry for specular surfaces: an overview
• Title（参考訳）: 鏡面の偏向計測:概要
• Authors: Jan Burke, Alexey Pak, Sebastian H\"ofer, Mathias Ziebarth, Masoud Roschani, J\"urgen Beyerer
• Abstract要約: 反射面を評価するための技術的アプローチとしてのデフレクトメトリーは、現在40年近く存在しています。 この手法の様々な側面とバリエーションが、複数の論文や研究論文で研究され、また特定のサブトピックにもレビューが利用できるようになった。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Deflectometry as a technical approach to assessing reflective surfaces has now existed for almost 40 years. Different aspects and variations of the method have been studied in multiple theses and research articles, and reviews are also becoming available for certain subtopics. Still a field of active development with many unsolved problems, deflectometry now encompasses a large variety of application domains, hardware setup types, and processing workflows designed for different purposes, and spans a range from qualitative defect inspection of large vehicles to precision measurements of microscopic optics. Over these years, many exciting developments have accumulated in the underlying theory, in the systems design, and in the implementation specifics. This diversity of topics is difficult to grasp for experts and non-experts alike and may present an obstacle to a wider acceptance of deflectometry as a useful tool in other research fields and in the industry. This paper presents an attempt to summarize the status of deflectometry, and to map relations between its notable "spin-off" branches. The intention of the paper is to provide a common communication basis for practitioners and at the same time to offer a convenient entry point for those interested in learning and using the method. The list of references is extensive but definitely not exhaustive, introducing some prominent trends and established research groups in order to facilitate further self-directed exploration by the reader.
• Abstract（参考訳）: 反射面の評価のための技術アプローチとしての偏向測定は、現在約40年間存在している。 この手法の様々な側面とバリエーションが、複数の論文や研究論文で研究され、また特定のサブトピックにもレビューが利用できるようになった。 いまだに多くの未解決問題のある活発な開発分野であり、ディフレクションメトリーは様々な目的のために設計された様々なアプリケーションドメイン、ハードウェアセットアップタイプ、処理ワークフローを含み、大規模車両の定性的欠陥検査から顕微鏡光学の精密測定まで幅広い範囲にわたっている。 長年にわたり、多くのエキサイティングな開発が基礎となる理論、システム設計、実装仕様に蓄積されてきた。 このようなトピックの多様性は、専門家や非専門家の理解が困難であり、他の研究分野や業界で有用なツールとして、ディフレクションメトリが広く受け入れられることの障害となる可能性がある。 本稿では,偏向法の現状を要約し,その顕著な「スピンオフ」分岐間の関係をマッピングする。 本稿の目的は,実践者に対して共通のコミュニケーション基盤を提供することであり,同時に,学習や利用に関心のある人に便利なエントリポイントを提供することである。 参考文献の一覧は広範であるが、網羅的ではない。読者によるさらなる自己指揮的な探索を促進するために、いくつかの顕著な傾向と確立された研究グループを導入している。

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