論文の概要: Single G centers in silicon fabricated by co-implantation with carbon
and proton
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2204.13521v1
- Date: Thu, 28 Apr 2022 14:13:09 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-02-15 06:30:21.832658
- Title: Single G centers in silicon fabricated by co-implantation with carbon
and proton
- Title(参考訳): 炭素とプロトンを併用したシリコン中の単一G中心
- Authors: Yoann Baron, Alrik Durand, Tobias Herzig, Mario Khoury, S\'ebastien
Pezzagna, Jan Meijer, Isabelle Robert-Philip, Marco Abbarchi, Jean-Michel
Hartmann, Shay Reboh, Jean-Michel G\'erard, Vincent Jacques, Guillaume
Cassabois and Ana\"is Dr\'eau
- Abstract要約: 光通信波長の単一光子放射に適合するアレー密度を有するシリコン中のG中心の製造について報告する。
試料はシリコン・オン・絶縁体ウェハを用いて作製し, 種々のフレンスで炭素イオンと陽子を局所的に注入した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We report the fabrication of G centers in silicon with an areal density
compatible with single photon emission at optical telecommunication
wavelengths. Our sample is made from a silicon-on-insulator wafer which is
locally implanted with carbon ions and protons at various fluences. Decreasing
the implantation fluences enables to gradually switch from large ensembles to
isolated single defects, reaching areal densities of G centers down to
$\sim$0.2 $\mu$m$^{-2}$. Single defect creation is demonstrated by photon
antibunching in intensity-correlation experiments, thus establishing our
approach as a reproducible procedure for generating single artificial atoms in
silicon for quantum technologies.
- Abstract(参考訳): 光通信波長の単一光子放射に適合するアリーナ密度を持つシリコン中のG中心の製造について報告する。
サンプルはシリコン・オン・インシュレーターウェハーで作られており、様々な蛍光で炭素イオンと陽子を局所的に注入している。
注入流束を減少させることで、大きなアンサンブルから孤立した単一欠陥へと徐々に切り替えることができ、g中心の基底密度は$\sim$0.2$\mu$m$^{-2}$となる。
単一欠陥生成は、強度相関実験において光子反バンチによって実証され、量子技術のためのシリコン中の単一人工原子を生成する再現可能な方法として確立される。
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