論文の概要: EVHA: Explainable Vision System for Hardware Testing and Assurance -- An Overview

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2207.09627v1
• Date: Wed, 20 Jul 2022 02:58:46 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2022-07-21 12:37:14.212415
• Title: EVHA: Explainable Vision System for Hardware Testing and Assurance -- An Overview
• Title（参考訳）: EVHA: ハードウェアテストと保証のための説明可能なビジョンシステム - 概要
• Authors: Md Mahfuz Al Hasan, Mohammad Tahsin Mostafiz, Thomas An Le, Jake Julia, Nidish Vashistha, Shayan Taheri, and Navid Asadizanjani
• Abstract要約: 本稿では,ハードウェアテストと保証のための説明可能なビジョンシステム(EVHA)を提案する。 EVHAは、低コストで正確で高速な設計変更を最小限に検出することができる。 本稿では,防衛システムの設計,開発,実装,分析について概説する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Due to the ever-growing demands for electronic chips in different sectors the semiconductor companies have been mandated to offshore their manufacturing processes. This unwanted matter has made security and trustworthiness of their fabricated chips concerning and caused creation of hardware attacks. In this condition, different entities in the semiconductor supply chain can act maliciously and execute an attack on the design computing layers, from devices to systems. Our attack is a hardware Trojan that is inserted during mask generation/fabrication in an untrusted foundry. The Trojan leaves a footprint in the fabricated through addition, deletion, or change of design cells. In order to tackle this problem, we propose Explainable Vision System for Hardware Testing and Assurance (EVHA) in this work that can detect the smallest possible change to a design in a low-cost, accurate, and fast manner. The inputs to this system are Scanning Electron Microscopy (SEM) images acquired from the Integrated Circuits (ICs) under examination. The system output is determination of IC status in terms of having any defect and/or hardware Trojan through addition, deletion, or change in the design cells at the cell-level. This article provides an overview on the design, development, implementation, and analysis of our defense system.
• Abstract（参考訳）: さまざまなセクターで電子チップの需要が高まっているため、半導体会社は製造プロセスのオフショア化を義務付けられている。 この不必要な問題は、製造したチップのセキュリティと信頼性を高め、ハードウェア攻撃を発生させた。 この場合、半導体サプライチェーン内の異なるエンティティが悪意を持って動作し、デバイスからシステムまで、設計コンピューティング層に対して攻撃を実行することができる。 われわれの攻撃はハードウェアのトロイの木馬で、信頼できない鋳造所でマスクの生成/製造中に挿入される。 トロイの木馬は、デザインセルの追加、削除、または変更によって作られる足跡を残している。 この問題に対処するために,我々は,低コストで正確かつ迅速な設計変更を検出可能な,ハードウェアテストと保証のための説明可能なビジョンシステム(EVHA)を提案する。 本システムへの入力は、試験中の集積回路(IC)から取得した走査型電子顕微鏡(SEM)画像である。 システム出力は、細胞レベルでの設計セルの追加、削除、または変更を通じて、欠陥および/またはハードウェアトロイの木馬のIC状態を決定する。 本稿では,防衛システムの設計,開発,実装,解析について概説する。

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