論文の概要: Semiconductor Defect Detection by Hybrid Classical-Quantum Deep Learning
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2208.03514v1
- Date: Sat, 6 Aug 2022 13:13:23 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-08-09 13:13:23.767388
- Title: Semiconductor Defect Detection by Hybrid Classical-Quantum Deep Learning
- Title(参考訳): 古典量子深層学習による半導体欠陥検出
- Authors: YuanFu Yang and Min Sun
- Abstract要約: 我々は、量子コンピューティングの情報処理の利点を利用して欠陥学習欠陥レビュー(DLDR)を促進する。
本稿では,近距離量子プロセッサの深層学習のための古典量子ハイブリッドアルゴリズムを提案する。
表現性やエンタングリング能力の異なるパラメタライズド量子回路を探索する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 30.329065698451902
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: With the rapid development of artificial intelligence and autonomous driving
technology, the demand for semiconductors is projected to rise substantially.
However, the massive expansion of semiconductor manufacturing and the
development of new technology will bring many defect wafers. If these defect
wafers have not been correctly inspected, the ineffective semiconductor
processing on these defect wafers will cause additional impact to our
environment, such as excessive carbon dioxide emission and energy consumption.
In this paper, we utilize the information processing advantages of quantum
computing to promote the defect learning defect review (DLDR). We propose a
classical-quantum hybrid algorithm for deep learning on near-term quantum
processors. By tuning parameters implemented on it, quantum circuit driven by
our framework learns a given DLDR task, include of wafer defect map
classification, defect pattern classification, and hotspot detection. In
addition, we explore parametrized quantum circuits with different
expressibility and entangling capacities. These results can be used to build a
future roadmap to develop circuit-based quantum deep learning for semiconductor
defect detection.
- Abstract(参考訳): 人工知能と自動運転技術の急速な発展により、半導体の需要は大幅に増加すると予想されている。
しかし、半導体製造の大規模な拡大と新しい技術の発展は、多くの欠陥ウエハをもたらす。
これらの欠陥ウエハが正しく検査されていない場合、欠陥ウエハの非効率な半導体処理は、過剰な二酸化炭素排出やエネルギー消費など、我々の環境にさらなる影響をもたらす。
本稿では、量子コンピューティングの情報処理の利点を活用し、欠陥学習欠陥レビュー(DLDR)を促進する。
短期量子プロセッサの深層学習のための古典量子ハイブリッドアルゴリズムを提案する。
実装されたパラメータをチューニングすることにより、我々のフレームワークによって駆動される量子回路は、ウェハ欠陥マップ分類、欠陥パターン分類、ホットスポット検出を含む、所定のDLDRタスクを学習する。
さらに,表現性やエンタングル能力の異なるパラメタライズド量子回路についても検討する。
これらの結果は、半導体欠陥検出のための回路ベースの量子ディープラーニングを開発するための将来のロードマップを構築するために使用できる。
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