論文の概要: Feature Selection for Fault Detection and Prediction based on Event Log
Analysis
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2208.09440v1
- Date: Fri, 19 Aug 2022 16:43:37 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-08-22 16:49:34.930290
- Title: Feature Selection for Fault Detection and Prediction based on Event Log
Analysis
- Title(参考訳): イベントログ解析に基づく障害検出と予測のための特徴選択
- Authors: Zhong Li and Matthijs van Leeuwen
- Abstract要約: イベントログは複雑なシステムにおける異常検出と予測に広く利用されている。
ログベースの異常検出と予測のための特徴選択手法を開発し,その有効性と効率を大幅に改善する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 14.80211278818555
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Event logs are widely used for anomaly detection and prediction in complex
systems. Existing log-based anomaly detection methods usually consist of four
main steps: log collection, log parsing, feature extraction, and anomaly
detection, wherein the feature extraction step extracts useful features for
anomaly detection by counting log events. For a complex system, such as a
lithography machine consisting of a large number of subsystems, its log may
contain thousands of different events, resulting in abounding extracted
features. However, when anomaly detection is performed at the subsystem level,
analyzing all features becomes expensive and unnecessary. To mitigate this
problem, we develop a feature selection method for log-based anomaly detection
and prediction, largely improving the effectiveness and efficiency.
- Abstract(参考訳): イベントログは複雑なシステムの異常検出と予測に広く利用されている。
既存のログベースの異常検出方法は、ログ収集、ログ解析、特徴抽出、異常検出の4つの主要なステップで構成されており、特徴抽出ステップは、ログイベントを数えることで異常検出に有用な特徴を抽出する。
多数のサブシステムからなるリソグラフィマシンのような複雑なシステムでは、ログには数千の異なるイベントが含まれており、多くの特徴が抽出される。
しかし、サブシステムレベルで異常検出を行うと、すべての機能の解析は高価で不要になる。
この問題を軽減するため、ログベースの異常検出と予測のための特徴選択手法を開発し、その効率と効率を大幅に改善する。
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