論文の概要: The Challenge of Quickly Determining the Quality of a Single-Photon
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- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2306.15683v1
- Date: Thu, 22 Jun 2023 05:17:26 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-07-02 13:17:26.466772
- Title: The Challenge of Quickly Determining the Quality of a Single-Photon
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- Title(参考訳): 単一光子源の品質を迅速に決定する課題
- Authors: David Jacob Kedziora and Anna Musia{\l} and Wojciech Rudno-Rudzi\'nski
and Bogdan Gabrys
- Abstract要約: 本研究では、InGaAs/GaAsエピタキシャル量子ドットから1.3mmで励起され、80MHzレーザーによって励起される8つの提案について検討する。
本研究では、機械学習技術であるデータ拡張を利用して、ブートストラップされたサンプルを用いて実験データを補足することで、新しいコントリビューションを提案する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 5.486517260361978
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Novel methods for rapidly estimating single-photon source (SPS) quality, e.g.
of quantum dots, have been promoted in recent literature to address the
expensive and time-consuming nature of experimental validation via intensity
interferometry. However, the frequent lack of uncertainty discussions and
reproducible details raises concerns about their reliability. This study
investigates one such proposal on eight datasets obtained from an InGaAs/GaAs
epitaxial quantum dot that emits at 1.3 {\mu}m and is excited by an 80 MHz
laser. The study introduces a novel contribution by employing data
augmentation, a machine learning technique, to supplement experimental data
with bootstrapped samples. Analysis of the SPS quality metric, i.e. the
probability of multi-photon emission events, as derived from efficient
histogram fitting of the synthetic samples, reveals significant uncertainty
contributed by stochastic variability in the Poisson processes that describe
detection rates. Ignoring this source of error risks severe overconfidence in
both early quality estimates and claims for state-of-the-art SPS devices.
Additionally, this study finds that standard least-squares fitting is
comparable to the studied counter-proposal, expanding averages show some
promise for early estimation, and reducing background counts improves fitting
accuracy but does not address the Poisson-process variability. Ultimately, data
augmentation demonstrates its value in supplementing physical experiments; its
benefit here is to emphasise the need for a cautious assessment of SPS quality.
- Abstract(参考訳): 量子ドットのような単一光子源(SPS)の品質を迅速に推定する新しい手法は、強度干渉法による実験検証の高価で時間を要する性質に対処するために近年普及している。
しかしながら、不確実性に関する議論や再現可能な詳細の頻繁な欠如は、信頼性に関する懸念を引き起こす。
本研究では、InGaAs/GaAsエピタキシャル量子ドットから得られる8つのデータセットについて、80MHzレーザーによって励起される1.3 {\displaystyle {\mu}mのそのような提案について検討した。
本研究では,機械学習手法であるdata augmentationを用いて実験データをブートストラップしたサンプルで補完する新たな貢献について紹介する。
合成試料の効率的なヒストグラムフィッティングから導かれる多光子放出現象の確率であるSPS品質測定値の解析は、検出率を記述したポアソン過程における確率的変動に起因する重要な不確実性を明らかにする。
このエラーの原因を無視することは、早期品質評価と最先端のSPSデバイスのクレームの両方において、重大な過信リスクを負う。
さらに本研究は, 標準最小二乗法が研究対象のカウンタープロポサールに匹敵するものであることを見出し, 拡張平均は早期推定にいくつかの期待を示し, 背景数の減少は適合精度を向上させるが, ポアソン過程の変動性には対処しないことを示した。
究極的には、データ拡張は物理実験を補完する価値を示しており、その利点は、SPS品質の慎重な評価の必要性を強調することである。
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