Fugu-MT 論文翻訳(概要): On the Effect of Clock Frequency on Voltage and Electromagnetic Fault Injection

論文の概要: On the Effect of Clock Frequency on Voltage and Electromagnetic Fault Injection

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2310.13389v1
Date: Fri, 20 Oct 2023 09:57:05 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2024-03-19 01:54:08.671007
Title: On the Effect of Clock Frequency on Voltage and Electromagnetic Fault Injection
Title（参考訳）: クロック周波数が電圧および電磁欠陥注入に及ぼす影響について
Authors: Stefanos Koffas, Praveen Kumar Vadnala,
Abstract要約: 各種クロック周波数に対する電圧および電磁障害攻撃の成功率について検討した。以上の結果より, 電圧およびEM故障発生時のクロック周波数の増加に伴い, 攻撃成功率が上昇することが示唆された。
参考スコア（独自算出の注目度）: 1.03590082373586
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: We investigate the influence of clock frequency on the success rate of a fault injection attack. In particular, we examine the success rate of voltage and electromagnetic fault attacks for varying clock frequencies. Using three different tests that cover different components of a System-on-Chip, we perform fault injection while its CPU operates at different clock frequencies. Our results show that the attack's success rate increases with an increase in clock frequency for both voltage and EM fault injection attacks. As the technology advances push the clock frequency further, these results can help assess the impact of fault injection attacks more accurately and develop appropriate countermeasures to address them.
Abstract（参考訳）: クロック周波数が障害注入攻撃の成功率に及ぼす影響について検討する。特に、様々なクロック周波数に対する電圧および電磁障害攻撃の成功率について検討する。 System-on-Chipの異なるコンポーネントをカバーする3つの異なるテストを使用して、CPUが異なるクロック周波数で動作する間、障害注入を行う。以上の結果より, 電圧およびEM故障発生時のクロック周波数の増加に伴い, 攻撃成功率が上昇することが示唆された。この技術がクロック周波数をさらに推し進めるにつれて、これらの結果は、障害注入攻撃の影響をより正確に評価し、それに対応するための適切な対策を開発するのに役立つ。

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