論文の概要: Characterization of individual charge fluctuators in Si/SiGe quantum
dots
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2401.14541v1
- Date: Thu, 25 Jan 2024 22:19:19 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-01-29 16:25:14.762933
- Title: Characterization of individual charge fluctuators in Si/SiGe quantum
dots
- Title(参考訳): si/sige量子ドットにおける個々の電荷変動のキャラクタリゼーション
- Authors: Feiyang Ye, Ammar Ellaboudy, Dylan Albrecht, Rohith Vudatha, N. Tobias
Jacobson, John M. Nichol
- Abstract要約: 簡単な量子ドット輸送測定により,Si/SiGe量子ドット内の各2レベル変動器(TLF)を探索する。
TLFスイッチング時間はゲート電圧に敏感に依存し、温度は低下し、近くの量子ドットを通した電流に依存する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.5658970628961091
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Electron spins in silicon quantum dots are excellent qubits due to their long
coherence times, scalability, and compatibility with advanced semiconductor
technology. Although high gate fidelities can be achieved with spin qubits,
charge noise in the semiconductor environment still hinders further
improvements. Despite the importance of charge noise, key questions about the
specific nature of the fluctuators that cause charge noise remain unanswered.
Here, we probe individual two-level fluctuators (TLFs) in Si/SiGe quantum dots
through simple quantum-dot transport measurement and analyses based on the
Allan variance and factorial hidden Markov modeling. We find that the TLF
switching times depend sensitively on gate voltages, decrease with temperature,
and depend on the current through a nearby quantum dot. A model for the data of
the primary TLF we study indicates that it may be a bistable charge dipole near
the plunger gate electrode, heated by current through the sensor dot, and
experiencing state transitions driven not by direct electron-phonon coupling
but through some other mechanism such as coupling to electrons passing through
the sensor dot.
- Abstract(参考訳): シリコン量子ドットの電子スピンは、長いコヒーレンス時間、スケーラビリティ、高度な半導体技術との互換性により優れた量子ビットである。
高ゲート密度はスピン量子ビットで達成できるが、半導体環境における電荷ノイズはさらなる改善を妨げる。
電荷ノイズの重要性にもかかわらず、電荷ノイズの原因となる変動体の性質に関する重要な疑問は未解決のままである。
ここでは,Si/SiGe量子ドット内の個々の2レベルゆらぎ(TLF)を簡易な量子ドット輸送測定により探索し,Allan分散と分解能隠れマルコフモデルに基づく解析を行う。
TLFスイッチング時間はゲート電圧に敏感に依存し、温度は低下し、近くの量子ドットを通した電流に依存する。
本研究では, 電極近傍のバイスタブル電荷双極子であり, センサドットを通した電流によって加熱され, 直接電子フォノンカップリングではなく, センサドットを通過する電子とのカップリングなどの他の機構によって駆動される状態遷移を経験することを示す。
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