論文の概要: Mitigating Bias Using Model-Agnostic Data Attribution
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2405.05031v1
- Date: Wed, 8 May 2024 13:00:56 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-05-09 14:24:42.493714
- Title: Mitigating Bias Using Model-Agnostic Data Attribution
- Title(参考訳): モデルに依存しないデータ属性を用いたバイアスの緩和
- Authors: Sander De Coninck, Wei-Cheng Wang, Sam Leroux, Pieter Simoens,
- Abstract要約: 機械学習モデルにおけるバイアスの緩和は、公平性と公平性を保証するための重要な取り組みである。
本稿では, 画素画像の属性を利用して, バイアス属性を含む画像の領域を特定し, 正規化することで, バイアスに対処する新しい手法を提案する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 2.9868610316099335
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Mitigating bias in machine learning models is a critical endeavor for ensuring fairness and equity. In this paper, we propose a novel approach to address bias by leveraging pixel image attributions to identify and regularize regions of images containing significant information about bias attributes. Our method utilizes a model-agnostic approach to extract pixel attributions by employing a convolutional neural network (CNN) classifier trained on small image patches. By training the classifier to predict a property of the entire image using only a single patch, we achieve region-based attributions that provide insights into the distribution of important information across the image. We propose utilizing these attributions to introduce targeted noise into datasets with confounding attributes that bias the data, thereby constraining neural networks from learning these biases and emphasizing the primary attributes. Our approach demonstrates its efficacy in enabling the training of unbiased classifiers on heavily biased datasets.
- Abstract(参考訳): 機械学習モデルにおけるバイアスの緩和は、公平性と公平性を保証するための重要な取り組みである。
本稿では、画素画像属性を利用して、バイアス属性に関する重要な情報を含む画像の領域を特定し、正規化することで、バイアスに対処する新しいアプローチを提案する。
提案手法は,小さな画像パッチに基づいて訓練された畳み込みニューラルネットワーク(CNN)分類器を用いて,画素属性の抽出にモデルに依存しないアプローチを用いる。
画像全体の特性を単一のパッチで予測するために分類器を訓練することにより、画像全体にわたる重要な情報の分布に関する洞察を提供する領域ベースの属性を実現する。
我々は、これらの属性を利用して、データに偏った属性を持つデータセットにターゲットノイズを導入し、ニューラルネットワークがこれらのバイアスを学習し、主属性を強調することを制限することを提案する。
本手法は、偏りの強いデータセット上で、偏りのない分類器の訓練を可能にする効果を示す。
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