論文の概要: A unified law of robustness for Bregman divergence losses

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2405.16639v1
• Date: Sun, 26 May 2024 17:30:44 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2024-05-28 20:09:48.132905
• Title: A unified law of robustness for Bregman divergence losses
• Title（参考訳）: ブレグマン発散損失に対する統一ロバスト性則
• Authors: Santanu Das, Jatin Batra, Piyush Srivastava,
• Abstract要約: 本稿では,ブレグマン分散損失が2乗損失とクロスエントロピー損失の共通一般化を形成することを示す。 我々の一般化は、ブベックとセルクの証明の中心にあるバイアス分散型分解の同定に依存する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 2.014089835498735
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: In contemporary deep learning practice, models are often trained to near zero loss i.e. to nearly interpolate the training data. However, the number of parameters in the model is usually far more than the number of data points $n$, the theoretical minimum needed for interpolation: a phenomenon referred to as overparameterization. In an interesting piece of work that contributes to the considerable research that has been devoted to understand overparameterization, Bubeck, and Sellke showed that for a broad class of covariate distributions (specifically those satisfying a natural notion of concentration of measure), overparameterization is necessary for robust interpolation i.e. if the interpolating function is required to be Lipschitz. However, their robustness results were proved only in the setting of regression with square loss. In practice, however many other kinds of losses are used, e.g. cross entropy loss for classification. In this work, we generalize Bubeck and Selke's result to Bregman divergence losses, which form a common generalization of square loss and cross-entropy loss. Our generalization relies on identifying a bias variance-type decomposition that lies at the heart of the proof and Bubeck and Sellke.
• Abstract（参考訳）: 現代のディープラーニングの実践では、モデルはほとんどゼロの損失、すなわちトレーニングデータをほぼ補間するように訓練される。 しかし、モデル内のパラメータの数は、通常、補間に必要な理論上の最小値である$n$よりもはるかに多い:過パラメータ化と呼ばれる現象である。 オーバーパラメトリゼーションを理解するために費やされたかなりの研究に寄与する興味深い研究の中で、ブベックとセルケは、広い種類の共変量分布(特に測度集中の自然な概念を満たすもの)に対して、過パラメトリゼーションは堅牢な補間(すなわち補間関数がリプシッツであることが要求される場合)に必要であることを示した。 しかし, その頑健性は, 正方損失を伴う回帰の設定においてのみ証明された。 実際には、他の多くの種類の損失が使用されるが、例えば、分類のためのクロスエントロピー損失がある。 本研究では,ブベックとセルケの結果をブレグマン分散損失に一般化し,二乗損失とクロスエントロピー損失の共通一般化を形成する。 我々の一般化は、ブベックとセルクの証明の中心にあるバイアス分散型分解の同定に依存する。

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