Fugu-MT 論文翻訳(概要): Identifying impurities in a silicon substrate by using a superconducting flux qubit

論文の概要: Identifying impurities in a silicon substrate by using a superconducting flux qubit

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2406.14948v1
Date: Fri, 21 Jun 2024 08:02:08 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2024-06-24 14:23:19.105302
Title: Identifying impurities in a silicon substrate by using a superconducting flux qubit
Title（参考訳）: 超伝導フラックス量子ビットを用いたシリコン基板中の不純物同定
Authors: Hiraku Toida, Kosuke Kakuyanagi, Leonid V. Abdurakhimov, Masahiro Hori, Yukinori Ono, Shiro Saito,
Abstract要約: 超伝導フラックス量子ビットに基づく磁力計を用いてビスマスドープシリコン基板を解析した。磁化の温度依存性は、シリコン基板が少なくとも2つの信号源を含むことを示している。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: A bismuth-doped silicon substrate was analyzed by using a magnetometer based on a superconducting flux qubit. The temperature dependence of the magnetization indicates that the silicon substrate contains at least two signal sources, intentionally doped bismuth spins and a spin 1/2 system with a ratio of 0.873 to 0.127. In combination with a conventional electron spin resonance spectrometer, a candidate origin of the spin 1/2 system was identified as a dangling bond on the silicon surface. In addition, the spin sensitivity of the magnetometer was also estimated to be 12 spins/$\sqrt{\mathrm{Hz}}$ by using optimized dispersive readout.
Abstract（参考訳）: 超伝導フラックス量子ビットに基づく磁力計を用いてビスマスドープシリコン基板を解析した。磁化の温度依存性は、シリコン基板が少なくとも2つの信号源、意図的にドーピングされたビスマススピンと、0.873〜0.127のスピン1/2系を含むことを示している。従来の電子スピン共鳴分光計と組み合わせて、スピン1/2系の候補起源をシリコン表面上のダングリング結合として同定した。さらに、磁力計のスピン感度は最適化された分散読み出しを用いて12スピン/$\sqrt{\mathrm{Hz}}$と推定された。

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