論文の概要: Enhancing Apple's Defect Classification: Insights from Visible Spectrum and Narrow Spectral Band Imaging
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2410.19784v1
- Date: Mon, 14 Oct 2024 21:37:26 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2024-11-03 08:19:44.291093
- Title: Enhancing Apple's Defect Classification: Insights from Visible Spectrum and Narrow Spectral Band Imaging
- Title(参考訳): Appleの欠陥分類の強化:可視スペクトルと狭帯域画像からの洞察
- Authors: Omar Coello, Moisés Coronel, Darío Carpio, Boris Vintimilla, Luis Chuquimarca,
- Abstract要約: 本研究は, リンゴの欠陥の分類を, 経済的損失を軽減し, 食品サプライチェーンを最適化するための重要な手段として扱う。
可視光と660nmの波長の画像を統合して、欠陥分類の精度と効率を高める革新的なアプローチが採用されている。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License:
- Abstract: This study addresses the classification of defects in apples as a crucial measure to mitigate economic losses and optimize the food supply chain. An innovative approach is employed that integrates images from the visible spectrum and 660 nm spectral wavelength to enhance accuracy and efficiency in defect classification. The methodology is based on the use of Single-Input and Multi-Inputs convolutional neural networks (CNNs) to validate the proposed strategies. Steps include image acquisition and preprocessing, classification model training, and performance evaluation. Results demonstrate that defect classification using the 660 nm spectral wavelength reveals details not visible in the entire visible spectrum. It is seen that the use of the appropriate spectral range in the classification process is slightly superior to the entire visible spectrum. The MobileNetV1 model achieves an accuracy of 98.80\% on the validation dataset versus the 98.26\% achieved using the entire visible spectrum. Conclusions highlight the potential to enhance the method by capturing images with specific spectral ranges using filters, enabling more effective network training for classification task. These improvements could further enhance the system's capability to identify and classify defects in apples.
- Abstract(参考訳): 本研究は, リンゴの欠陥の分類を, 経済的損失を軽減し, 食品サプライチェーンを最適化するための重要な手段として扱う。
可視光と660nmの波長の画像を統合して、欠陥分類の精度と効率を高める革新的なアプローチが採用されている。
この手法は、提案した戦略を検証するためにシングル入力とマルチ入力畳み込みニューラルネットワーク(CNN)を用いている。
ステップには、画像取得と前処理、分類モデルトレーニング、パフォーマンス評価が含まれる。
結果, 660nmのスペクトル波長を用いた欠陥分類では, 可視光スペクトル全体では見えない細部が明らかとなった。
分類過程における適切なスペクトル範囲の使用は、可視スペクトル全体よりもわずかに優れていると考えられる。
MobileNetV1モデルは、検証データセットの98.80\%の精度を、全可視スペクトルを用いて達成された98.26\%に対して達成する。
結論は、フィルタを用いて特定のスペクトル範囲の画像をキャプチャし、分類タスクのためのより効果的なネットワークトレーニングを可能にすることにより、この手法を強化する可能性を強調している。
これらの改善は、リンゴの欠陥を特定し分類するシステムの能力をさらに強化する可能性がある。
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