論文の概要: Effects of multi-photon states in the calibration of single-photon detectors based on a portable bi-photon source
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2412.02566v1
- Date: Tue, 03 Dec 2024 16:54:34 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2024-12-04 15:43:44.394178
- Title: Effects of multi-photon states in the calibration of single-photon detectors based on a portable bi-photon source
- Title(参考訳): 携帯型複光子源を用いた単光子検出器の校正における多光子状態の影響
- Authors: Sujeet Pani, Duncan Earl, Francisco Elohim Becerra,
- Abstract要約: 単一光子検出器(SPD)は、量子イメージング、センシング、通信のための多くのプロトコルにおいてユビキタスである。
量子相関光子対のソースに基づくSPDの校正法は、単一光子検出を用いて、隠蔽された単一光子を生成する。
両光子源の多光子特性は, システム損失とともに, SPDの校正精度に有意な影響を及ぼすことを示した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
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- Abstract: Single-photon detectors (SPDs) are ubiquitous in many protocols for quantum imaging, sensing, and communications. Many of these protocols critically depend on the precise knowledge of their detection efficiency. A method for the calibration of SPDs based on sources of quantum-correlated photon pairs uses single-photon detection to generate heralded single photons, which can be used as a standard of radiation at the single-photon level. These heralded photons then allow for precise calibration of SPDs in absolute terms. In this work, we investigate the absolute calibration of avalanche photodiodes based on a portable, commercial bi-photon source, and investigate the effects of multi-photon events from the spontaneous parametric down conversion (SPDC) process in these sources. We show that the multi-photon character of the bi-photon source, together with system losses, has a significant impact on the achievable accuracy for the calibration of SPDs. However, modeling the expected photon counting statistics from the squeezed vacuum in the SPDC process allows for accurate estimation of the efficiency of SPDs, assuming that the system losses are known. This study provides essential information for the design and optimization of portable bi-photon sources for their application in on-site calibration of SPDs with high accuracy, without requiring any other reference standard.
- Abstract(参考訳): 単一光子検出器(SPD)は、量子イメージング、センシング、通信のための多くのプロトコルにおいてユビキタスである。
これらのプロトコルの多くは、検出効率の正確な知識に依存している。
量子相関光子対のソースに基づくSPDの校正法は、単一光子検出を用いて、単一の光子レベルの放射の標準として使用できる、隠蔽された単一光子を生成する。
これらの隠蔽光子は、絶対的な条件でSPDの正確な校正を可能にする。
本研究では, 携帯型二光子源を用いたアバランシェ型フォトダイオードの絶対校正について検討し, 自然パラメトリックダウン変換(SPDC)プロセスによる多光子現象の影響について検討する。
両光子源の多光子特性は, システム損失とともに, SPDの校正精度に有意な影響を及ぼすことを示した。
しかし、SPDCプロセスにおける圧縮真空からの期待光子カウント統計をモデル化することで、システム損失が知られていると仮定して、SPDの効率を正確に推定することができる。
本研究は,SPDのオンサイトキャリブレーションにおける携帯用双光子源の設計と最適化に必須な情報を提供する。
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