Fugu-MT 論文翻訳(概要): Single-qubit gates with errors at the $10^{-7}$ level

論文の概要: Single-qubit gates with errors at the $10^{-7}$ level

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2412.04421v1
Date: Thu, 05 Dec 2024 18:45:29 GMT
ステータス: 翻訳完了
システム内更新日: 2024-12-06 14:40:10.287984
Title: Single-qubit gates with errors at the $10^{-7}$ level
Title（参考訳）: 10^{-7}$レベルでエラーのあるシングルキュービットゲート
Authors: M. C. Smith, A. D. Leu, K. Miyanishi, M. F. Gely, D. M. Lucas,
Abstract要約: サブパート・パー・ミリオン・エラー率を持つ単一量子ビットゲートの達成を,43ドルCa$+超微細クロックキュービットで報告した。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License:
Abstract: We report the achievement of single-qubit gates with sub-part-per-million error rates, in a trapped-ion $^{43}$Ca$^{+}$ hyperfine clock qubit. We explore the speed/fidelity trade-off for gate times $4.4\leq t_{g}\leq35~\mu$s, and benchmark a minimum error of $1.5(4) \times 10^{-7}$. Gate calibration errors are suppressed to $< 10^{-8}$, leaving qubit decoherence ($T_{2}\approx 70$ s), leakage and measurement as the dominant error contributions. The ion is held above a microfabricated surface-electrode trap which incorporates a chip-integrated microwave resonator for electronic qubit control; the trap is operated at room temperature without magnetic shielding.
Abstract（参考訳）: サブパート・パー・ミリオン誤差率を持つ単一量子ビットゲートの達成を、トラップイオン$^{43}$Ca$^{+}$超微細クロックキュービットで報告する。ゲートタイムの速度/忠実トレードオフを4.4\leq t_{g}\leq35~\mu$sで調べ,1.5(4) \times 10^{-7}$の最小誤差をベンチマークする。ゲートキャリブレーションエラーは$<10^{-8}$に抑制され、クォービットデコヒーレンス(T_{2}\approx 70$ s)、リークと測定が主なエラーコントリビューションとして残される。イオンは、電子量子ビット制御のためのチップ集積マイクロ波共振器を内蔵したマイクロファブリック表面電極トラップの上に保持され、磁気シールドなしで室温で操作される。

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