論文の概要: EIAD: Explainable Industrial Anomaly Detection Via Multi-Modal Large Language Models

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2503.14162v1
• Date: Tue, 18 Mar 2025 11:33:29 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-03-19 16:29:12.845365
• Title: EIAD: Explainable Industrial Anomaly Detection Via Multi-Modal Large Language Models
• Title（参考訳）: EIAD:マルチモーダル大言語モデルによる説明可能な産業異常検出
• Authors: Zongyun Zhang, Jiacheng Ruan, Xian Gao, Ting Liu, Yuzhuo Fu,
• Abstract要約: 工業異常検出(IAD)は製造中の製品品質を確保するために重要である。 本稿では,コア特徴抽出からダイアログ機能を分離する専用マルチモーダル欠陥ローカライゼーションモジュールを提案する。 私たちはまた、Defect Detection Question Answering (DDQA) という、最初のマルチモーダル産業異常検出トレーニングデータセットにも貢献する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 23.898938659720503
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Industrial Anomaly Detection (IAD) is critical to ensure product quality during manufacturing. Although existing zero-shot defect segmentation and detection methods have shown effectiveness, they cannot provide detailed descriptions of the defects. Furthermore, the application of large multi-modal models in IAD remains in its infancy, facing challenges in balancing question-answering (QA) performance and mask-based grounding capabilities, often owing to overfitting during the fine-tuning process. To address these challenges, we propose a novel approach that introduces a dedicated multi-modal defect localization module to decouple the dialog functionality from the core feature extraction. This decoupling is achieved through independent optimization objectives and tailored learning strategies. Additionally, we contribute to the first multi-modal industrial anomaly detection training dataset, named Defect Detection Question Answering (DDQA), encompassing a wide range of defect types and industrial scenarios. Unlike conventional datasets that rely on GPT-generated data, DDQA ensures authenticity and reliability and offers a robust foundation for model training. Experimental results demonstrate that our proposed method, Explainable Industrial Anomaly Detection Assistant (EIAD), achieves outstanding performance in defect detection and localization tasks. It not only significantly enhances accuracy but also improves interpretability. These advancements highlight the potential of EIAD for practical applications in industrial settings.
• Abstract（参考訳）: 工業異常検出(IAD)は製造中の製品品質を確保するために重要である。 既存のゼロショット欠陥セグメンテーションと検出方法は有効性を示しているが、欠陥の詳細な説明はできない。 さらに、IADにおける大規模なマルチモーダルモデルの適用はまだ初期段階であり、質問応答(QA)性能とマスクベースのグラウンドリング能力のバランスをとる上での課題に直面している。 これらの課題に対処するため,コア機能抽出からダイアログ機能を分離する専用マルチモーダル欠陥ローカライゼーションモジュールを提案する。 この分離は、独立した最適化目標と調整された学習戦略によって達成される。 さらに, 欠陥検出質問応答 (DDQA) と呼ばれる, 幅広い欠陥タイプと産業シナリオを含む, 初の多モード産業異常検出訓練データセットにも貢献する。 GPT生成データに依存する従来のデータセットとは異なり、DDQAは信頼性と信頼性を確保し、モデルトレーニングの堅牢な基盤を提供する。 実験により,本手法は欠陥検出および局所化タスクにおいて優れた性能を発揮することを示す。 精度を大幅に向上するだけでなく、解釈可能性も向上する。 これらの進歩は、産業環境における実践的応用のためのEIADの可能性を強調している。

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