論文の概要: The spatial correlation of radiation-induced errors in superconducting devices decays over a millimeter
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2505.04902v1
- Date: Thu, 08 May 2025 02:38:56 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-05-09 21:43:49.725921
- Title: The spatial correlation of radiation-induced errors in superconducting devices decays over a millimeter
- Title（参考訳）: 超伝導体における放射誘起誤差の空間的相関
- Authors: Francesco Valenti, Anil Murani, Patrick Paluch, Robert Gartmann, Lukas Scheller, Richard Gebauer, Robert Kruk, Thomas Reisinger, Luis Ardila-Perez, Ioan M. Pop,
- Abstract要約: 6チップの超伝導マイクロ波共振器でナノ秒分解能多重再生を行う。
これにより、生成したフォノンの飛行の差分時間を測定することにより、チップ上の電離放射線の衝撃位置を特定できる。
我々は、各共振器(吸収エネルギーのプロキシ)の位相応答と衝撃点からの距離を相関させて、フォノンを媒介とする放射線中毒のミリメートル減衰長を明らかにする。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We perform nanosecond-resolution multiplexed readout on six same-chip superconducting microwave resonators. This allows us to pinpoint the impact positions of ionizing radiation on the chip by measuring the differential time of flight of the generated phonons, inducing correlated errors in the device, thereby implementing an on-chip seismic array. We correlate the phase response of each resonator - a proxy for the absorbed energy - to the distance from the impact point to uncover a millimetric decay length for the phonon-mediated radiation poisoning.
- Abstract（参考訳）: 6チップの超伝導マイクロ波共振器でナノ秒分解能多重再生を行う。
これにより、発生したフォノンの飛行の差分時間を測定し、デバイス内の相関誤差を誘発し、オンチップ地震アレイを実装することにより、チップ上の電離放射線の衝撃位置を特定できる。
我々は、各共振器(吸収エネルギーのプロキシ)の位相応答と衝撃点からの距離を相関させて、フォノンを媒介とする放射線中毒のミリメートル減衰長を明らかにする。
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