論文の概要: The First Differentiable Transfer-Based Algorithm for Discrete MicroLED Repair
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2508.09206v1
- Date: Sun, 10 Aug 2025 00:55:54 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-08-14 20:42:00.615679
- Title: The First Differentiable Transfer-Based Algorithm for Discrete MicroLED Repair
- Title(参考訳): 離散マイクロLED修復のための第1次微分変換型アルゴリズム
- Authors: Ning-Yuan Lue,
- Abstract要約: 本稿では,トランスファープラットフォームの離散シフトをモデル化する微分可能なトランスファーモジュールをベースとした,最初の修復アルゴリズムを提案する。
局所近接探索アルゴリズムと比較して,本手法はより優れた補修性能を実現し,より柔軟な客観設計を可能にする。
実験の結果、2000×2000アレイ上では転送ステップが50%減少し、2分以下の計画時間が短縮された。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Laser-enabled selective transfer, a key process in high-throughput microLED fabrication, requires computational models that can plan shift sequences to minimize motion of XY stages and adapt to varying optimization objectives across the substrate. We propose the first repair algorithm based on a differentiable transfer module designed to model discrete shifts of transfer platforms, while remaining trainable via gradient-based optimization. Compared to local proximity searching algorithms, our approach achieves superior repair performance and enables more flexible objective designs, such as minimizing the number of steps. Unlike reinforcement learning (RL)-based approaches, our method eliminates the need for handcrafted feature extractors and trains significantly faster, allowing scalability to large arrays. Experiments show a 50% reduction in transfer steps and sub-2-minute planning time on 2000x2000 arrays. This method provides a practical and adaptable solution for accelerating microLED repair in AR/VR and next-generation display fabrication.
- Abstract(参考訳): 高スループットのマイクロLED製造において重要なプロセスであるレーザー対応選択的転写は、XYステージの運動を最小限に抑えるためにシフトシーケンスを計画し、基板全体の様々な最適化目標に適応できる計算モデルを必要とする。
本稿では,移動プラットフォームの離散シフトをモデル化するために設計された,微分可能な移動モジュールに基づく最初の修復アルゴリズムを提案する。
局所近接探索アルゴリズムと比較して,本手法はより優れた補修性能を実現し,ステップ数を最小限に抑えるなど,より柔軟な客観設計を可能にする。
強化学習(RL)と異なり,提案手法は手作りの特徴抽出器の必要性を排除し,列車を大幅に高速化し,大規模アレイのスケーラビリティを実現する。
実験の結果、2000×2000アレイ上では転送ステップが50%減少し、2分以下の計画時間が短縮された。
この方法は、AR/VRおよび次世代ディスプレイ製造におけるmicroLED修復を加速するための実用的で適応可能なソリューションを提供する。
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