論文の概要: Complete characterization of beam deflection based on double weak value amplification system

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2510.27398v1
• Date: Fri, 31 Oct 2025 11:35:17 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-11-03 17:52:16.087879
• Title: Complete characterization of beam deflection based on double weak value amplification system
• Title（参考訳）: 二重弱値増幅系に基づくビーム偏向の完全評価
• Authors: Yu Wang, Rongguo Yang, Jing Zhang, Xiaomin Liu, Chenzhen Luo, Kui Liu, Jiangrui Gao,
• Abstract要約: 我々はHermite-Gaussian-postselected double weak value systemを用いたヨーとピッチの同時測定を実験的に実現した。 システムの2つの暗いポートから出力されるTEM$_10$およびTEM$_01$モードに関与するヨーとピッチ角の信号は、独立して測定することができる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 10.834001337347729
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: The precise measurement of spatial attitude parameters is critical for applications in inertial navigation, industrial monitoring, instrument calibration, quantum metrology, etc. In this work, we theoretically investigate and experimentally realize the simultaneous measurement of the yaw and pitch angles using a Hermite-Gaussian-postselected double weak value system integrated with two sets of high-order-mode balanced homodyne detections, thereby achieving a complete characterization of the beam deflection. Signals of the yaw and pitch angles that are involved in TEM$_{10}$ and TEM$_{01}$ modes output from two dark ports of the system can be measured independently. As a result, the obtained minimum measurable yaw and pitch angles of beam deflection are 83 prad and 89 prad, respectively. Meanwhile, the corresponding displacements are 0.79 pm and 0.85 pm, respectively. This work expands the beam deflection measurement to two dimensions, which provides a new insight for future high-precision multi-parameter spatial precise detection.
• Abstract（参考訳）: 空間的姿勢パラメータの正確な測定は、慣性航法、産業モニタリング、計器校正、量子気象学などへの応用に不可欠である。 本研究では,Hermite-Gaussian-postselected double weak value systemを2組の高次モード平衡ホモダイン検出と統合し,ヤウとピッチ角の同時測定を理論的に実現し,ビーム偏向の完全なキャラクタリゼーションを実現する。 TEM$_{10}$とTEM$_{01}$のモードで出力されるヨーとピッチ角の信号は、独立に測定することができる。 その結果、得られた最小測定可能なヨーとビーム偏向のピッチ角はそれぞれ83prad、89pradとなる。 一方、対応する変位は0.79 pmと0.85 pmである。 この研究はビームの偏向測定を2次元に拡張し、将来の高精度マルチパラメータ空間的精密検出のための新たな洞察を提供する。

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